大山 真実 | 東大物性研
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概要
関連著者
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白澤 徹郎
東大物性研
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高橋 敏男
東大物性研
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大山 真実
東大物性研
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白澤 徹郎
東京大学物性研究所
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高橋 敏男
東京大学物性研究所
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VOEGELI Wolfgang
東大物性研
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Voegeli W.
東大物性研
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高橋 敏男
東大 物性研
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Voegelin Wolfgang
KEK-PF
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Vobegeli Wolfgang
東大物性研
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廣江 拓
東大物性研
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Wolfgang Voegeli
東大物性研
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角田 潤一
東大物性研
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田中 悟
九大院工
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平原 徹
東大理
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萩原 好人
九大院工
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Srey Chenda
九大院工
著作論文
- 28pTH-1 Si(111)上のBi(001)超薄膜の界面構造解析(28pTH 表面界面構造(金属),領域9(表面・界面,結晶成長))
- 27pPSA-38 ペンタセン超薄膜のX線CTR散乱法による構造解析(27pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 21aHA-7 X線CTR散乱法によるペンタセン超薄膜の界面構造(21aHA 表面界面構造(有機化合物),領域9(表面・界面,結晶成長))
- 24aCC-5 表面X線回折法によるBi/Bi_2Te_3トポロジカル絶縁体界面の構造研究(24aCC 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 26pPSB-34 表面X線回折法によるSiC(000-1)上のエピタキシャルグラフェンの界面構造の研究(26pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))