Voegeli W. | 東大物性研

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概要

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関連著者

• 高橋 敏男

  東京大学物性研究所

• Voegeli W.

  東大物性研

• 白澤 徹郎

  東京大学物性研究所

• VOEGELI Wolfgang

  東大物性研

• 高橋 敏男

  東大物性研

• Voegelin Wolfgang

  KEK-PF

• 白澤 徹郎

  東大物性研

• Vobegeli Wolfgang

  東大物性研

• Wolfgang Voegeli

  東大物性研

• 高橋 敏男

  東大 物性研

• 杉山 弘

  高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所

• 杉山 弘

  Kek Pf

• 秋本 晃一

  名大院工

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• 廣江 拓

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• 秋本 晃一

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• 松下 正

  高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所

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• 荒川 悦雄

  東京学芸大

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  物構研

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• 松下 正

  高エ研

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• 一宮 彪彦

  名大工

• 一宮 彪彦

  名古屋大学大学院工学研究科

• VOEGELI Woflgang

  東大物性研

• 杉山 弘

  高エ研PF

• 野島 健大

  東大物性研

• 新井 大輔

  東大物性研

• 服部 賢

  奈良先端大物質創成

• 服部 梓

  奈良先端大物質創成

• 若林 裕助

  高工研PF

• 田尻 寛男

  JASRI

• 坂田 修身

  JASRI

• 隅谷 和嗣

  東大物性研

• 杉山 弘

  KEK-PF

• 田尻 寛男

  高輝度光科学研究センター

• 服部 賢

  奈良先端大物質

• 坂田 修身

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• 坂田 修身

  高輝度光科学研究センター

• 坂田 修身

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• 坂田 修身

  財団法人 高輝度光科学研究センター

• 康江 拓

  東大物性研

• Voegeli W.

  名大工

• 青山 朋弘

  名大工

• 浦田 明晃

  名大工

• 久田 祥之

  デンソー基礎研

• 光岡 義仁

  デンソー基礎研

• 向中野 信一

  デンソー基礎研

• 杉山 弘

  KEK物構研

• 一宮 彪彦

  名古屋大学

• 一宮 彪彦

  名古屋大学工学部

• 服部 賢

  奈良先端大

• 坂田 修身

  (財)高輝度光科学研究センター(jasri/spring-8)

• 坂田 修身

  財団法人 高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門

• 坂田 修身

  高輝度光科学研究センター放射光研究所利用促進部門

• 廣江 拓

  東京大学物性研究所

• Wolfgang Voegeli

  東京大学物性研究所

• 阿部 誠

  東京大学物性研究所

• 松下 正

  高エネルギー加速器研究機構

• VOEGELI Wolfgang

  高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所

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著作論文

• 22pGQ-2 Atomic structure of the Si(553)-Au surface
• 28pRE-10 X線CTR散乱を利用した超薄膜界面原子の3次元再構成法(28pRE 領域10,領域5合同 X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 24pPSA-23 表面X線回折法を用いたSi(111)-5×2-Au表面の構造解析(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 21pXJ-6 X線回折によるSi(111)表面上のFeシリサイド薄膜構造解析(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 26pPSB-31 Structures of Pb on high-index Si surfaces
• 29pPSB-58 Si(553)-Auの表面構造の研究(29pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 22aXJ-10 酸化によるSiC(0001)-3×3と√×√-R30°表面構造の変化(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 23aWS-1 Low temperature superstructure formation in gold atomic chains on high-index Si surfaces
• 24aPS-66 表面X線回折法によるPb/Si(111)表面の再構成構造とその相転移(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 24aPS-65 Structures formed by Pb deposition onto high-index Si surfaces
• 25pTG-11 Pb/Si(111)表面の1×1↔√7×√3相転移(25pTG 表面界面構造(半導体・無機化合物),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 28pTH-1 Si(111)上のBi(001)超薄膜の界面構造解析(28pTH 表面界面構造(金属),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 27pPSA-38 ペンタセン超薄膜のX線CTR散乱法による構造解析(27pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 23aJA-7 ラウエケースのX線CTR散乱(23aJA X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 21aHA-7 X線CTR散乱法によるペンタセン超薄膜の界面構造(21aHA 表面界面構造(有機化合物),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 多波長同時分散型光学系を用いた結晶トランケーションロッド散乱プロファイルの迅速測定法の開発

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