中谷 信一郎 | 東大物性研
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概要
関連著者
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中谷 信一郎
東大物性研
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高橋 敏男
東大物性研
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張 小威
高エネ研物構研
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菊田 惺志
東大工
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河田 洋
Kek物構研
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秋本 晃一
名大院工
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秋本 晃一
名工大
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田尻 寛男
JASRI
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隅谷 和嗣
東大物性研
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秋本 晃一
名大工
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杉山 弘
Kek Pf
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田尻 寛男
高輝度光科学研究センター
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清水 富士夫
電通大レーザー量子・物質
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高橋 正光
原研関西研
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田尻 寛男
東大物性研
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菊田 惺志
(財)高輝度光科学研究センター
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青野 正和
理研
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高橋 正光
東大物性研
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矢代 航
物材機構ナノマテ:産総研ナノテク
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富満 広
原研物理
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張 小威
KEK-PF
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杉山 弘
高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所
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杉山 弘
高エ研
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高橋 敏男
東京大学物性研究所
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石川 哲也
東大工
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岡本 直子
東大物性研
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桑原 裕司
理研 SPring-8
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河田 洋
高エ研
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一宮 彪彦
名大工
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張 小威
高エ研
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石川 哲也
高エネルギー物理学研究所放射光施設
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岡本 直子
大阪市大理
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矢代 航
東大新領域
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一宮 彪彦
名古屋大学工学部
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榎本 貴志
名大工
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榎本 貴志
豊田工業高専
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斉藤 彰
大阪大学基礎工学部精密科学
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石川 哲也
高エ研
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星野 崇
東大物性研
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菊田 惺志
東大 工
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高橋 敏男
東大工
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吉田 隆司
東大物性研
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依田 芳卓
Jasri
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村田 好正
電通大物理
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坂田 修身
JASRI
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張 小威
物構研
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野島 昭信
東大物性研
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安藤 正海
KEK-PF
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増沢 航介
東大物性研
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白木 靖寛
都市大総研
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矢代 航
東大物性研
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草野 修治
東大物性研
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張 小威
物構研PF
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伊藤 幸仙
東大物性研
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白木 靖寛
東大先端研
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草野 修治
物材機構
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長谷川 祐司
東大工
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杉山 弘
KEK物構研
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深津 晋
東大・教養
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張 小威
高エ研PF
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杉山 弘
高工研PF
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張 小威
高工研PF
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中谷 信一郎
東大工
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堀井 新司
名大工
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斉藤 彰
東大工
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長谷川 祐司
東大・工
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依田 芳卓
JASRI, SPring-8
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一宮 彪彦
原子力機構先端基礎研
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河田 洋
物構研
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岡野 達雄
東大生研
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星埜 禎男
東大 物性研
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近藤 高志
東大
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村田 好正
東大生研
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近藤 高志
東大工
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河田 洋
KEK-PF
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河田 洋
高工研
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星埜 禎男
物性研
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一宮 彪彦
名古屋大学大学院工学研究科
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VOEGELI Wolfgang
東大物性研
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Vobegeli Wolfgang
東大物性研
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橋本 光博
東大物性研
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富満 広
原研
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Voegeli W.
東大物性研
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宇佐美 徳隆
東北大金研
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矢代 航
産総研
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杉山 弘
KEK-PF
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杉山 弘
物構研
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中谷 信一朗
東大物性研
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安藤 正海
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東大先端研
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桑原 祐司
理研
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深津 晋
東大先端科
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白木 靖寛
東大先端科
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東大生産研
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岡野 達雄
東大生産研
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清水 圭介
東大物性研
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坂田 修身
Jst-crest:高輝度光科学研
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坂田 修身
高輝度光科学研究センター
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坂田 修身
Spring-8 Jasri
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坂田 修身
財団法人 高輝度光科学研究センター
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Voegeli W.
名大工
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青山 朋弘
名大工
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浦田 明晃
名大工
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久田 祥之
デンソー基礎研
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光岡 義仁
デンソー基礎研
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向中野 信一
デンソー基礎研
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白木 靖寛
東大院工
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伊藤 良一
東大工
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一宮 彪彦
名古屋大学
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Kundu Manisha
電通大
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永田 一夫
電通大物理
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山田 千樫
電通大物理
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Kundu Manisha
電通大物理
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杉山 弘
高工研
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張 小威
高工研
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佐藤 昌史
高工研
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河田 洋
高工研PF
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近藤 高志
Univ. Tokyo Tokyo Jpn
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張 小威
KEK物構研
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黄 晋二
東京大学工学部物理工学科
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黄 晋二
東大工
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海老原 稔
東大工
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木島 俊博
東大物性研
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平野 馨一
高工研
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宇佐見 徳隆
東北大金研
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星埜 禎男
筑波大物工
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土井 健治
原研
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坂田 修身
財団法人 高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門
-
坂田 修身
高輝度光科学研究センター放射光研究所利用促進部門
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Ito S.
名大工
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Yashiro W.
東大物性研
-
Nakatani S.
東大物性研
-
張 小威
高エネ研
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Granzer E.
東大工
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伊藤 良一
明治大理工:crest
-
佐藤 文彦
東大工
-
菊田 惺志
東京大学・工学部
-
Wolfgang Voegeli
東大物性研
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高橋 敏男
東京大学・工学部
-
Voegelin Wolfgang
KEK-PF
-
中谷 信一郎
東京大学・工学部
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入沢 寿史
東大院工
著作論文
- 5p-T-2 透過型X線回折法による表面構造の研究
- 26p-P-2 Si(111)√×√ - Ag 構造によるX線回折
- 26p-P-1 X線I-E曲線によるSi(111)√×√-Bi構造の解析 II
- 26pXC-4 X線回折によるSi(111)-6×1(3×1)-Ag表面の3次元的な原子配列の研究(表面・界面構造(シリコン表面),領域9(表面・界面, 結晶成長))
- 20aPS-27 X 線 CTR 散乱低温試料マニピュレータの開発と Si(111)-6x1-Ag 表面構造の研究
- 29a-J-3 X線回折法によるSi(001)-2×1構造の解析
- 29a-YM-7 Si/Ge/Si界面からのX線散漫散乱
- X線回折を利用した半導体ヘテロ界面構造の研究 (原子レベルでの結晶成長機構) -- (成長表面と界面構造)
- 1p-G-3 X線回折法によるSi(111)√3x√3-Au表面構造の研究
- 25p-S-6 X線回折法によるGe/Si(001)界面構造の研究
- 22aXJ-10 酸化によるSiC(0001)-3×3と√×√-R30°表面構造の変化(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 26pYA-6 6軸X線回折計による表面・界面構造の評価
- 21aPS-36 表面X線回折法によるSi(111)-Auの埋もれた界面構造の研究(領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 25a-K-10 X線回折を利用したGaAs/Ge/GeAs(100)副格子反転層の評価
- 23aYH-5 蛍光X線ホログラフィによるGe/Si(001)量子ドット構造の研究
- 31p-B-13 すれすれ入射条件下のX線非対称反射の動力学的扱い
- 27aXE-3 表面X線回折法によるAg/Si(111)界面の√構造とIETモデル
- 22pT-5 表面X線回折法によるAg/Si界面の構造
- 24pPSA-13 表面X線回折法によるSi(111)-√×√-(Ag+Au)表面の構造解析
- 27a-Q-11 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定III
- 3a-TA-9 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定 II
- 4a-W-11 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定
- 13a-T-1 表面弾性波による中性子回折強度の変化
- 5a-PS-21 X線回折法によるSi(111)√3x√3-Gaの構造解析
- 5a-PS-20 X線回折法によるSi(111)√3x√3-Sbの構造解析
- 27aXE-5 X線回折法による室温Si(111)-√×√-Ag構造の再解析
- 4a-B5-10 逆格子点近くでのX線回折強度分布
- 31p-B-8 ダーウィン流の動力学的X線回折理論
- 28p-PSB-37 X線の絶対反射率測定による表面構造解析
- 15a-DL-8 表面X線回折現象における動力学的考察
- 27a-ZS-1 X線回折法によるSi(111)√x√-Ag構造の決定
- 30p-E-15 表面弾性波によるX線回析強度の変調
- 高速X線シャッター―表面弾性波によるX線強度の変調
- タイトル無し
- 9aSM-2 X線回折法によるAl2O3/Ru(0001)の構造解析(表面界面構造・電子物性,領域9)
- 7aSM-6 表面X線回折法によるSi(111)-√3×√3-Ag表面の相転移研究(表面界面構造・電子物性,領域9)
- 27pWG-1 表面X線回折を用いたイメージング法によるSi/Ge/Si(001)界面構造解析(27pWG X線・粒子線,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野))