高橋 敏男 | 東大工
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概要
関連著者
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高橋 敏男
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秋本 晃一
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土井 健治
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中谷 信一郎
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安中 正一
商船大
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杉山 和正
東北大金研
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佐々木 聡
東京工業大学 応用セラミックス研究所
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石川 哲也
高エ研
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杉山 和正
東北大学金属材料研究所
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星埜 禎男
東大 物性研
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松下 正
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泉 弘一
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松下 正
高エ研
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星埜 禎男
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計量研究所
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田中 充
計量研
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後藤 俊治
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斉藤 旬
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石川 哲也
高エネルギー物理学研究所放射光施設
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金 漢泰
朝鮮大・工
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安藤 正海
高工研PF
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中山 貫
計量研究所アボガドロ・グループ
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杉井 清昌
武蔵野通研
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Spieker P.
高工研
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松下 正
高工研
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高良 和武
高工研
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富満 広
原研物理
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杉山 和正
東北大・選研
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筑波大物工
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佐々木 聡
東京工業大学
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安藤 正海
東京大学工学部
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杉井 清昌
NTT基礎研
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厚木通研
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中山 貫
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泉 弘一
東京大学大学院工学系研究科
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R & Dグループ
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佐藤 文彦
東大工
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安藤 正海
高工研
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松井 純爾
日電基研
著作論文
- 特集にあたって-放射光とX線結晶学, この15年
- 1p-S-5 高角入射条件下でのSi(111)√×√Bi構造によるX線回折の観測
- 12p-T-1 PF精密X線光学実験装置 : I概要
- X線定在法によるNiSi_2/(111)Si界面構造の解析(表面に特有な超格子構造の解析とその新しい方法の開発,科研費研究会報告)
- 2a-KK-4 X線定在波法によるNisi_2/(111)Si界面構造の解析
- 2p-N-1 共平面同時反射条件下におけるX線回折強度曲線
- 3a-M-11 X線散漫散乱によるシリコン単結晶中の微小欠陥の解析
- ラウエ写真を撮ってみよう
- 3. 微少量・高精度・極限に迫る 表面構造をX線回折で調べる
- 表面を探る : 1. ビーム・表面相互作用: 放射光: 新しい展開 ( 表面)
- B. K. Tanner and D. K. Bowen編: Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods; Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Durham, 1979, Plenum Press, New York and London, 1980, xxvi+589ページ, 26×17.5cm, 21,840円(NATO Advanced Study Instit
- 13a-T-1 表面弾性波による中性子回折強度の変化
- 11p-A-9 表面における低エネルギーヘリウムイオン散乱の共鳴現象
- 27p-L-11 X線波動場法による蛍光X線放射と光伝導の変化の測定
- 2p-M-8 X線定在波法によるInGaAsP混晶薄膜の評価
- 合金ガラスFe78B12Si10, Ni78B12Si10の極小角中性子散乱
- 30p-E-15 表面弾性波によるX線回析強度の変調
- 中性子極小角散乱