1p-S-5 高角入射条件下でのSi(111)√<3>×√<3>Bi構造によるX線回折の観測

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 社団法人日本物理学会の論文
• 1985-09-13

著者

• 石川 哲也

  高エ研

• 石川 哲也

  東大工

• 松下 正

  高エ研放射光

• 菊田 惺志

  東大工

• 高橋 敏男

  東大工

• 高山 勇

  東大工

• 太田 俊明

  高エ研

• 松下 正

  高エ研

• 松下 正

  Kek-pf

• 高橋 敏男

  東大・物性研

• 石川 哲也

  高エネルギー物理学研究所放射光施設

• 松下 正

  東大工

関連論文

• 31p-TJ-2 X線熱散漫散乱波の回折 : Ge完全結晶における厚さ依存性
• 28p-H-4 完全結晶におけるX線熱散漫散乱波の回折
• 26a-S-7 SR光による非投影結晶モワレ縞の観測 III
• 28a-L-4 微小歪観察のための薄くしたシリコンの平面波トポグラフィ
• 26p-Q-6 ラウエケース、吸収のある場合のX線熱散浸散乱に及ぼす動力学的回折効果 II
• 5p-TA-9 SR光による非投影結晶モワレ縞の観測 II
• 4a-TA-4 Au/Ni人工格子のsupermodulus Effect
• 1p-TJ-7 SR光による非投影結晶モワレ縞の観測
• 31p-TJ-3 ラウエケース、吸収のある場合のX線熱散漫散乱に及ぼす動力学的回折効果
• 5p-T-2 透過型X線回折法による表面構造の研究
• 5a-B5-11 大強度放射光用直接水冷型2結晶モノクロメーター
• 28p-E-5 金属人工格子Ni/Moの圧力効果
• 26p-A-11 40ナノラジアンの角度拡がりをもつビームによるX線トポグラフィ
• 26p-P-2 Si(111)√×√ - Ag 構造によるX線回折
• 26p-P-1 X線I-E曲線によるSi(111)√×√-Bi構造の解析 II
• 28p-H-8 うすいシリコン結晶の平面波放射光トポグラフィによる微小欠陥の検出
• 28p-H-3 集光型2結晶モノクロメーター
• 30p-D-11 X線回折法によるSi(111)√×√-Bi構造
• 1p-E-5 X線光学と精密実験
• 1p-S-5 高角入射条件下でのSi(111)√×√Bi構造によるX線回折の観測
• 2p-K-6 Si単結晶からの干渉制動輻射の偏極の測定
• 11p-T-11 フォトンファクトリー低温X線回折ゴニオメータの建設
• 11p-T-8 X線異常散乱を用いたCu_2NiZn合金の短範囲規則の測定
• 2p-M-16 人工多層膜からの反射X線の角度分布
• 2p-M-13 GeのK吸収端における異常分散
• 12p-T-6 PF精密X線光学実験装置VI
• 12p-T-2 P.F.精密X線光学実験装置II : X線屈折率の測定
• 26p-A-2 EXAFSによるBi-Zn-Fe-O系磁性ガラスの構造解析
• 1p-E-9 軟 X 線ホログラフィ
• シリコン結晶中の微小欠陥が形成する格子歪の研究
• APD検出器による^Tm核共鳴電子線の検出
• 1a-D-2 APD検出器による^ Tm核共鳴電子線の検出
• 12p-T-1 PF精密X線光学実験装置 : I概要
• 24pWG-3 鏡面X線反射強度曲線の時分割測定の開発(X線・粒子線(X線回折・核共鳴分光),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 22aTC-5 X線鏡面反射強度曲線の時分割測定を目指した新しい測定法の開発(X線・粒子線(X線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 31p GK-5 全反射X線の角度分布測定による鏡面の評価
• RF磁場変調下の^FeBO_3の核共鳴前方散乱
• 1a-D-4 パルス磁場摂動下の^FeBO_3の核共鳴散乱
• 27p-PS-44 Ba_2YCu_3O_yのEXAFS : 酸素濃度依存性
• 7a-X-13 核共鳴非弾性散乱による元素を特定したフォノン状態密度
• 31p-A-8 核共鳴散乱による元素を特定したフォノンスペクトルII
• 31p-A-6 鉄微粒子の核共鳴非弾性散乱
• 核共鳴散乱による元素を特定したフォノンスペクトル
• 核共鳴非弾性散乱を用いた^Fe微粒子のフォノンの測定
• 1a-D-3 フォノン励起核共鳴散乱の温度依存性
• 4p-X-2 放射光による核共鳴非弾性散乱
• 26p-D-10 光合成酸素発生系のS_0, S_1, S_2, S_3状態MnクラスターによるX-線 K-吸スペクトル
• 31p-B-6 トリスタン主リング用いた超高輝度放射光計画
• 5a-TA-11 多孔質Siに対する逆格子点近傍のX線回折強度分布
• 2p-KK-2 気体回折法を用いたwiggler放射光のスペクトル測定
• 2p-KK-1 ウィグラ放射光用ビーム・ライン(BL14)の建設
• 12p-T-4 PF精密X線光学実験装置IV : Fe-3%Si結晶におけるX線の磁気散乱
• 12p-T-3 PF精密X線光学実験装置III : SRの偏光度測定と偏光面の回転
• 27p-L-4 放射光X線トポグラフィ装置 I : 設計・製作・立上げと運転
• 2a-NR-1 角度分解型平面波X線トポグラフィによる転位像 II
• 2p-N-4 角度分解型平面波X線トポグラフィによる転位像
• 31a-BF-9 Si単結晶中の積層欠陥の平面波X線トポグラフィ
• 10a-Z-5 転位の歪場の表面緩和の平面波X線トポグラフィ
• 27p-L-1 フォトンファクトリーEXAFS測定装置
• 30a-G-12 臭素をドープしたポリアセチレンのEXAFS
• 27a-SB-22 アモルファスGeTeのEXAFS
• 31p GK-8 EXAFS迅速測定のための光学及び検出系
• 27p-L-3 放射光小散乱カメラ
• 31p-B-7 放射光での偏光可変X線光学系
• 13a-DC-14 BL-28Bの円偏光度測定
• 26a-S-4 界面選択性X線トポグラフィ
• 28p-ZB-2 X線偏光光学系IV : 円偏光の高速スイッチング
• 28p-ZB-1 X線円偏光光学系
• 28a-L-3 外層膜のX線トポグラフィ
• 26p-Q-3 X線偏光光学系 II. : 偏光状態の完全決定
• 1p-TJ-13 2結晶X線偏光解析器の製作
• 5p-B5-3 左右円偏光X線の作製
• X線定在法によるNiSi_2/(111)Si界面構造の解析(表面に特有な超格子構造の解析とその新しい方法の開発,科研費研究会報告)
• 2a-KK-4 X線定在波法によるNisi_2/(111)Si界面構造の解析
• 2p-N-1 共平面同時反射条件下におけるX線回折強度曲線
• 26p-Q-4 X線偏光光学系III : 波長可変左右円偏光の生成
• 3a-M-11 X線散漫散乱によるシリコン単結晶中の微小欠陥の解析
• 26p-Q-10 Au/Ni人工格子のSupermodulus Effect II
• 27a-Q-11 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定III
• 3a-TA-9 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定 II
• 4a-W-11 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定
• 13a-T-1 表面弾性波による中性子回折強度の変化
• 5a-PS-21 X線回折法によるSi(111)√3x√3-Gaの構造解析
• 5a-PS-20 X線回折法によるSi(111)√3x√3-Sbの構造解析
• 4p-X-3 放射光による高圧下メスバウアー分光 (II)
• 29p-E-11 α-^Fe_2O_3 結晶の育成・評価と核ブラッグ散乱反射率
• 29p-E-9 放射光核ブラッグ散乱実験用精密ディフラクトメータ
• 5p-TA-2 SRX線のα-^Fe_2O_3結晶における核共鳴ブラッグ散乱
• 29p-E-12 AR-NE3における核共鳴散乱の時間スペクトルおよび吸収スペクトル
• 31p-ZB-5 シンクロトロン放射光によるフーリエ変換メスバウアー分光
• 28p-ZB-5 SR光による超高圧下メスバウアー分光
• 5a-P-9 イメージングプレート上の粉末回折パターンの解析
• 表面選択性X線トポグラフィによる鏡面研磨シリコン表面の観察
• X線結晶表面構造解析における位相問題
• 無機及び有機多層膜におけるX線定在波
• 31a-K2-2 固体ハロゲンの圧力誘起相転移 I.臭素(誘電体)
• 31p-M3-3 結晶表面構造のX線トポグラフ法による観察の試み(X線・粒子線)
• 31p-A3-7 GeのK吸収端における異常分散II(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)
• 1a-A3-3 人工多層膜によるブラッグ反射に伴われるX線定在波(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)
• 28a-S-3 固体ハロゲンの圧力誘起相転移 : III. 臭素分子相の構造(28aS 誘電体)

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク