1p-TJ-13 2結晶X線偏光解析器の製作
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1990-03-16
著者
関連論文
- 30pA09P 核融合生成中性子損傷に拠る半導体計測器X線感度特性変化の解明(プラズマ計測)
- 31p-TJ-2 X線熱散漫散乱波の回折 : Ge完全結晶における厚さ依存性
- 28p-H-4 完全結晶におけるX線熱散漫散乱波の回折
- 28aB34P p型並びにn型シリコン半導体X線検出器に対する核融合生成中性子照射の影響(計測)
- 26a-S-7 SR光による非投影結晶モワレ縞の観測 III
- 28a-L-4 微小歪観察のための薄くしたシリコンの平面波トポグラフィ
- 26p-Q-6 ラウエケース、吸収のある場合のX線熱散浸散乱に及ぼす動力学的回折効果 II
- 5p-TA-9 SR光による非投影結晶モワレ縞の観測 II
- 4a-TA-4 Au/Ni人工格子のsupermodulus Effect
- 1p-TJ-7 SR光による非投影結晶モワレ縞の観測
- 31p-TJ-3 ラウエケース、吸収のある場合のX線熱散漫散乱に及ぼす動力学的回折効果
- 5p-T-2 透過型X線回折法による表面構造の研究
- 5a-B5-11 大強度放射光用直接水冷型2結晶モノクロメーター
- 28p-E-5 金属人工格子Ni/Moの圧力効果
- 26p-A-11 40ナノラジアンの角度拡がりをもつビームによるX線トポグラフィ
- 26p-P-2 Si(111)√×√ - Ag 構造によるX線回折
- 26p-P-1 X線I-E曲線によるSi(111)√×√-Bi構造の解析 II
- 28p-H-8 うすいシリコン結晶の平面波放射光トポグラフィによる微小欠陥の検出
- 28p-H-3 集光型2結晶モノクロメーター
- 30p-D-11 X線回折法によるSi(111)√×√-Bi構造
- 1p-E-5 X線光学と精密実験
- 1p-S-5 高角入射条件下でのSi(111)√×√Bi構造によるX線回折の観測
- 11p-T-11 フォトンファクトリー低温X線回折ゴニオメータの建設
- 11p-T-8 X線異常散乱を用いたCu_2NiZn合金の短範囲規則の測定
- 2p-M-16 人工多層膜からの反射X線の角度分布
- 2p-M-13 GeのK吸収端における異常分散
- 12p-T-6 PF精密X線光学実験装置VI
- 12p-T-2 P.F.精密X線光学実験装置II : X線屈折率の測定
- シリコン結晶中の微小欠陥が形成する格子歪の研究
- 1p-YL-1 SPring-8におけるX線偏光素子の開発
- 12p-T-1 PF精密X線光学実験装置 : I概要
- 31p GK-5 全反射X線の角度分布測定による鏡面の評価
- 4p-X-2 放射光による核共鳴非弾性散乱
- 1p-YL-2 移相子と直線偏光子を用いたX線磁気回折における磁気効果エンハンス
- 5a-TA-11 多孔質Siに対する逆格子点近傍のX線回折強度分布
- 2p-KK-2 気体回折法を用いたwiggler放射光のスペクトル測定
- 2p-KK-1 ウィグラ放射光用ビーム・ライン(BL14)の建設
- 12p-T-4 PF精密X線光学実験装置IV : Fe-3%Si結晶におけるX線の磁気散乱
- 12p-T-3 PF精密X線光学実験装置III : SRの偏光度測定と偏光面の回転
- 27p-L-4 放射光X線トポグラフィ装置 I : 設計・製作・立上げと運転
- 2a-NR-1 角度分解型平面波X線トポグラフィによる転位像 II
- 2p-N-4 角度分解型平面波X線トポグラフィによる転位像
- 31a-BF-9 Si単結晶中の積層欠陥の平面波X線トポグラフィ
- 10a-Z-5 転位の歪場の表面緩和の平面波X線トポグラフィ
- 27pPSB-32 X線磁気回折によるホルミウム鉄ガーネットのスピンおよび軌道磁気モーメントの温度変化測定
- 29a-XJ-7 SPring-8における移相子を用いた単色X線磁気回折
- 31p-B-7 放射光での偏光可変X線光学系
- 13a-DC-14 BL-28Bの円偏光度測定
- 26a-S-4 界面選択性X線トポグラフィ
- 28p-ZB-2 X線偏光光学系IV : 円偏光の高速スイッチング
- 28p-ZB-1 X線円偏光光学系
- 28a-L-3 外層膜のX線トポグラフィ
- 26p-Q-3 X線偏光光学系 II. : 偏光状態の完全決定
- 1p-TJ-13 2結晶X線偏光解析器の製作
- 5p-B5-3 左右円偏光X線の作製
- X線定在法によるNiSi_2/(111)Si界面構造の解析(表面に特有な超格子構造の解析とその新しい方法の開発,科研費研究会報告)
- 2a-KK-4 X線定在波法によるNisi_2/(111)Si界面構造の解析
- 26p-Q-4 X線偏光光学系III : 波長可変左右円偏光の生成
- 4p-X-3 放射光による高圧下メスバウアー分光 (II)
- 29p-E-11 α-^Fe_2O_3 結晶の育成・評価と核ブラッグ散乱反射率
- 29p-E-9 放射光核ブラッグ散乱実験用精密ディフラクトメータ
- 5p-TA-2 SRX線のα-^Fe_2O_3結晶における核共鳴ブラッグ散乱
- 29p-E-12 AR-NE3における核共鳴散乱の時間スペクトルおよび吸収スペクトル
- 31p-ZB-5 シンクロトロン放射光によるフーリエ変換メスバウアー分光
- 28p-ZB-5 SR光による超高圧下メスバウアー分光
- 表面選択性X線トポグラフィによる鏡面研磨シリコン表面の観察
- 9aSL-6 多重極限下のX線磁気回折実験系の立ち上げ((X線)X線・粒子線,領域10)