2p-N-4 角度分解型平面波X線トポグラフィによる転位像
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1981-03-30
著者
関連論文
- 31p-TJ-2 X線熱散漫散乱波の回折 : Ge完全結晶における厚さ依存性
- 28p-H-4 完全結晶におけるX線熱散漫散乱波の回折
- 26a-S-7 SR光による非投影結晶モワレ縞の観測 III
- 28a-L-4 微小歪観察のための薄くしたシリコンの平面波トポグラフィ
- 26p-Q-6 ラウエケース、吸収のある場合のX線熱散浸散乱に及ぼす動力学的回折効果 II
- 5p-TA-9 SR光による非投影結晶モワレ縞の観測 II
- 4a-TA-4 Au/Ni人工格子のsupermodulus Effect
- 1p-TJ-7 SR光による非投影結晶モワレ縞の観測
- 31p-TJ-3 ラウエケース、吸収のある場合のX線熱散漫散乱に及ぼす動力学的回折効果
- 5p-T-2 透過型X線回折法による表面構造の研究
- 5a-B5-11 大強度放射光用直接水冷型2結晶モノクロメーター
- 28p-E-5 金属人工格子Ni/Moの圧力効果
- 26p-A-11 40ナノラジアンの角度拡がりをもつビームによるX線トポグラフィ
- 26p-P-2 Si(111)√×√ - Ag 構造によるX線回折
- 26p-P-1 X線I-E曲線によるSi(111)√×√-Bi構造の解析 II
- 28p-H-8 うすいシリコン結晶の平面波放射光トポグラフィによる微小欠陥の検出
- 28p-H-3 集光型2結晶モノクロメーター
- 30p-D-11 X線回折法によるSi(111)√×√-Bi構造
- 1p-E-5 X線光学と精密実験
- 1p-S-5 高角入射条件下でのSi(111)√×√Bi構造によるX線回折の観測
- 2p-K-6 Si単結晶からの干渉制動輻射の偏極の測定
- 11p-T-11 フォトンファクトリー低温X線回折ゴニオメータの建設
- 11p-T-8 X線異常散乱を用いたCu_2NiZn合金の短範囲規則の測定
- 2p-M-16 人工多層膜からの反射X線の角度分布
- 2p-M-13 GeのK吸収端における異常分散
- 12p-T-6 PF精密X線光学実験装置VI
- 12p-T-2 P.F.精密X線光学実験装置II : X線屈折率の測定
- 1p-E-9 軟 X 線ホログラフィ
- シリコン結晶中の微小欠陥が形成する格子歪の研究
- APD検出器による^Tm核共鳴電子線の検出
- 1a-D-2 APD検出器による^ Tm核共鳴電子線の検出
- 12p-T-1 PF精密X線光学実験装置 : I概要
- 31p GK-5 全反射X線の角度分布測定による鏡面の評価
- RF磁場変調下の^FeBO_3の核共鳴前方散乱
- 1a-D-4 パルス磁場摂動下の^FeBO_3の核共鳴散乱
- 7a-X-13 核共鳴非弾性散乱による元素を特定したフォノン状態密度
- 31p-A-8 核共鳴散乱による元素を特定したフォノンスペクトルII
- 31p-A-6 鉄微粒子の核共鳴非弾性散乱
- 核共鳴散乱による元素を特定したフォノンスペクトル
- 核共鳴非弾性散乱を用いた^Fe微粒子のフォノンの測定
- 1a-D-3 フォノン励起核共鳴散乱の温度依存性
- 4p-X-2 放射光による核共鳴非弾性散乱
- 31p-B-6 トリスタン主リング用いた超高輝度放射光計画
- 5a-TA-11 多孔質Siに対する逆格子点近傍のX線回折強度分布
- 2p-KK-2 気体回折法を用いたwiggler放射光のスペクトル測定
- 2p-KK-1 ウィグラ放射光用ビーム・ライン(BL14)の建設
- 12p-T-4 PF精密X線光学実験装置IV : Fe-3%Si結晶におけるX線の磁気散乱
- 12p-T-3 PF精密X線光学実験装置III : SRの偏光度測定と偏光面の回転
- 27p-L-4 放射光X線トポグラフィ装置 I : 設計・製作・立上げと運転
- 2a-NR-1 角度分解型平面波X線トポグラフィによる転位像 II
- 2p-N-4 角度分解型平面波X線トポグラフィによる転位像
- 31a-BF-9 Si単結晶中の積層欠陥の平面波X線トポグラフィ
- 10a-Z-5 転位の歪場の表面緩和の平面波X線トポグラフィ
- 31p-B-7 放射光での偏光可変X線光学系
- 13a-DC-14 BL-28Bの円偏光度測定
- 26a-S-4 界面選択性X線トポグラフィ
- 28p-ZB-2 X線偏光光学系IV : 円偏光の高速スイッチング
- 28p-ZB-1 X線円偏光光学系
- 28a-L-3 外層膜のX線トポグラフィ
- 26p-Q-3 X線偏光光学系 II. : 偏光状態の完全決定
- 1p-TJ-13 2結晶X線偏光解析器の製作
- 5p-B5-3 左右円偏光X線の作製
- X線定在法によるNiSi_2/(111)Si界面構造の解析(表面に特有な超格子構造の解析とその新しい方法の開発,科研費研究会報告)
- 2a-KK-4 X線定在波法によるNisi_2/(111)Si界面構造の解析
- 2p-N-1 共平面同時反射条件下におけるX線回折強度曲線
- 26p-Q-4 X線偏光光学系III : 波長可変左右円偏光の生成
- 3a-M-11 X線散漫散乱によるシリコン単結晶中の微小欠陥の解析
- 27a-Q-11 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定III
- 3a-TA-9 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定 II
- 4a-W-11 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定
- 13a-T-1 表面弾性波による中性子回折強度の変化
- 5a-PS-21 X線回折法によるSi(111)√3x√3-Gaの構造解析
- 5a-PS-20 X線回折法によるSi(111)√3x√3-Sbの構造解析
- 4p-X-3 放射光による高圧下メスバウアー分光 (II)
- 3a-G-1 X線スペクトロメーターによるロッキング・カーブの精密測定
- 11p-A-9 表面における低エネルギーヘリウムイオン散乱の共鳴現象
- 27p-L-11 X線波動場法による蛍光X線放射と光伝導の変化の測定
- 29p-E-11 α-^Fe_2O_3 結晶の育成・評価と核ブラッグ散乱反射率
- 29p-E-9 放射光核ブラッグ散乱実験用精密ディフラクトメータ
- 5p-TA-2 SRX線のα-^Fe_2O_3結晶における核共鳴ブラッグ散乱
- 31p-A-7 ^FeBO_3による核共鳴同時反射
- ^FeBO_3による核共鳴同時反射
- 31p-A-10 厚いシリコン単結晶による同時反射の回折像
- 31a-N-3 微小角X線散乱法によるアモルファス及び結晶性物質の研究
- 5p-TA-3 多層膜を利用した核共鳴散乱のシミュレーション
- 15a-DH-8 軟X線定在波法によるAu/Si(111)表面の解析
- 29p-E-12 AR-NE3における核共鳴散乱の時間スペクトルおよび吸収スペクトル
- 31p-ZB-5 シンクロトロン放射光によるフーリエ変換メスバウアー分光
- 28p-ZB-5 SR光による超高圧下メスバウアー分光
- 31p-A-11 ダイアモンド単結晶を用いたX線パラメトリック散乱
- 31p-B-3 ヘマタイト単結晶のブラッグ散乱および核共鳴散乱の散乱強度測定
- 表面選択性X線トポグラフィによる鏡面研磨シリコン表面の観察
- 29p-E-3 SR光による干渉実験
- 5p-TA-1 X線干渉計を用いた状態の混合による干渉効果の消失の研究
- 非対称反射を用いた複結晶法による格子歪の観察 : X線・粒子線
- X線二結晶スペクトロメーターによる格子歪みの精密測定 : 格子欠陥
- 荷電粒子の単結晶透過
- X線結晶表面構造解析における位相問題
- 垂直入射に近いX線回折法によるSi (111) 〓3x〓3-Bi構造
- 2p-M-8 X線定在波法によるInGaAsP混晶薄膜の評価