X線二結晶スペクトロメーターによる格子歪みの精密測定 : 格子欠陥
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1965-10-10
著者
関連論文
- 5p-T-2 透過型X線回折法による表面構造の研究
- 30p-D-11 X線回折法によるSi(111)√×√-Bi構造
- 1p-S-5 高角入射条件下でのSi(111)√×√Bi構造によるX線回折の観測
- 2p-K-6 Si単結晶からの干渉制動輻射の偏極の測定
- 1p-E-9 軟 X 線ホログラフィ
- APD検出器による^Tm核共鳴電子線の検出
- 1a-D-2 APD検出器による^ Tm核共鳴電子線の検出
- 12p-T-1 PF精密X線光学実験装置 : I概要
- 31p GK-5 全反射X線の角度分布測定による鏡面の評価
- RF磁場変調下の^FeBO_3の核共鳴前方散乱
- 1a-D-4 パルス磁場摂動下の^FeBO_3の核共鳴散乱
- 第9回国際結晶学会議
- 7a-X-13 核共鳴非弾性散乱による元素を特定したフォノン状態密度
- 31p-A-8 核共鳴散乱による元素を特定したフォノンスペクトルII
- 31p-A-6 鉄微粒子の核共鳴非弾性散乱
- 核共鳴散乱による元素を特定したフォノンスペクトル
- 核共鳴非弾性散乱を用いた^Fe微粒子のフォノンの測定
- 1a-D-3 フォノン励起核共鳴散乱の温度依存性
- 4p-X-2 放射光による核共鳴非弾性散乱
- 31p-B-6 トリスタン主リング用いた超高輝度放射光計画
- 12p-T-4 PF精密X線光学実験装置IV : Fe-3%Si結晶におけるX線の磁気散乱
- 2a-NR-1 角度分解型平面波X線トポグラフィによる転位像 II
- 2p-N-4 角度分解型平面波X線トポグラフィによる転位像
- 31a-BF-9 Si単結晶中の積層欠陥の平面波X線トポグラフィ
- 10a-Z-5 転位の歪場の表面緩和の平面波X線トポグラフィ
- 2p-TG-2 結晶コリメーターを用いるX線回折投影法 II
- 31p GK-8 EXAFS迅速測定のための光学及び検出系
- 7a-H-5 時分割X線回折法によるNaNO_2の動的構造解析
- 31p-B-7 放射光での偏光可変X線光学系
- 28p-ZB-2 X線偏光光学系IV : 円偏光の高速スイッチング
- 28p-ZB-1 X線円偏光光学系
- 26p-Q-3 X線偏光光学系 II. : 偏光状態の完全決定
- X線定在法によるNiSi_2/(111)Si界面構造の解析(表面に特有な超格子構造の解析とその新しい方法の開発,科研費研究会報告)
- 2a-KK-4 X線定在波法によるNisi_2/(111)Si界面構造の解析
- 5p-N-10 位置検出器を用いるX線回折による骨格筋の収縮機構の研究
- 7a-H-4 高時間分解能X線回折法
- 2p-N-1 共平面同時反射条件下におけるX線回折強度曲線
- 26p-Q-4 X線偏光光学系III : 波長可変左右円偏光の生成
- 3a-M-11 X線散漫散乱によるシリコン単結晶中の微小欠陥の解析
- 4a-KE-7 逆格子点の極く近傍におけるX線熱散漫散乱
- 5a-P-9 水晶のα-β相転移の回折法による研究
- 9a-D-6 人工水晶における不純物濃度と格子定数の関係
- 5a-E-8 高感度テレビ撮像管のX線回折への応用II-二,三の応用例-
- 5a-E-3 Dauphine双晶の境界構造のX線トポグラフによる研究
- 27a-Q-11 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定III
- 3a-TA-9 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定 II
- 4a-W-11 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定
- 13a-T-1 表面弾性波による中性子回折強度の変化
- 5a-PS-21 X線回折法によるSi(111)√3x√3-Gaの構造解析
- 5a-PS-20 X線回折法によるSi(111)√3x√3-Sbの構造解析
- 3a-AD-2 彎曲結晶モノクロメーターの反射曲線の測定
- 4p-X-3 放射光による高圧下メスバウアー分光 (II)
- 3a-G-1 X線スペクトロメーターによるロッキング・カーブの精密測定
- 11p-A-9 表面における低エネルギーヘリウムイオン散乱の共鳴現象
- 27p-L-11 X線波動場法による蛍光X線放射と光伝導の変化の測定
- 29p-E-11 α-^Fe_2O_3 結晶の育成・評価と核ブラッグ散乱反射率
- 29p-E-9 放射光核ブラッグ散乱実験用精密ディフラクトメータ
- 5p-TA-2 SRX線のα-^Fe_2O_3結晶における核共鳴ブラッグ散乱
- 13a-H-4 鏡面反射を考慮したBragg反射の検討II
- 6a-E-6 鏡面反射を考慮したBragg反射の検討
- 31p-A-7 ^FeBO_3による核共鳴同時反射
- ^FeBO_3による核共鳴同時反射
- 31p-A-10 厚いシリコン単結晶による同時反射の回折像
- 31a-N-3 微小角X線散乱法によるアモルファス及び結晶性物質の研究
- 大学理・工学部(主として応用物理関係)の卒業研究の実状調査
- 大学理・工学部(主として応用物理関係)の卒業研究・実験等の調査について : 物理教育シンポジウム
- 5p-TA-3 多層膜を利用した核共鳴散乱のシミュレーション
- 15a-DH-8 軟X線定在波法によるAu/Si(111)表面の解析
- 29p-E-12 AR-NE3における核共鳴散乱の時間スペクトルおよび吸収スペクトル
- 31p-ZB-5 シンクロトロン放射光によるフーリエ変換メスバウアー分光
- 28p-ZB-5 SR光による超高圧下メスバウアー分光
- 4p-KE-7 中性子のSi単結晶における動力学的回折現象
- 31p-A-11 ダイアモンド単結晶を用いたX線パラメトリック散乱
- 31p-B-3 ヘマタイト単結晶のブラッグ散乱および核共鳴散乱の散乱強度測定
- 31p-BF-9 二次元位置検出器を使用したX線結晶構造解析装置
- 10p-Z-1 フォトン・ファクトリー計画の概要
- 5p-L-11 X線回折用二次元検出器
- 11p-T-6 X線光学的に拡大したトポグラフのテレビによる観察
- 4p-P-1 X線結晶モワレの研究
- 9p-D-3 高感度テレビ撮像管のX線回折への応用 III : 構造解析への応用の試み
- 3p-KE-7 シリコン単結晶における微小格子欠陥の研究
- 29p-E-3 SR光による干渉実験
- 5p-TA-1 X線干渉計を用いた状態の混合による干渉効果の消失の研究
- 非対称反射を用いた複結晶法による格子歪の観察 : X線・粒子線
- X線二結晶スペクトロメーターによる格子歪みの精密測定 : 格子欠陥
- フォトンファクトリー計画研究会
- 荷電粒子の単結晶透過
- X線結晶表面構造解析における位相問題
- 垂直入射に近いX線回折法によるSi (111) 〓3x〓3-Bi構造
- 2p-M-8 X線定在波法によるInGaAsP混晶薄膜の評価
- 合金ガラスFe78B12Si10, Ni78B12Si10の極小角中性子散乱
- 30p-E-15 表面弾性波によるX線回析強度の変調
- 中性子極小角散乱
- 単結晶におけるX線回折に伴う非弾性散乱強度の変化II : X線粒子線
- 單結晶におけるX線回折に伴う非彈性散乱強度の変化 : 粒子線・X線
- メスバウアー効果の応用国際会議 : ICAME '93
- X線=結晶スペクトロメーターによる単結晶回折現象の研究 : 粒子線・X線
- 科学技術庁大型放射光施設計画について
- タイトル無し
- 31p-M3-2 レーザアニールのX線時分割測定(X線・粒子線)