9a-D-6 人工水晶における不純物濃度と格子定数の関係
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1971-04-06
著者
関連論文
- 2p-K-6 Si単結晶からの干渉制動輻射の偏極の測定
- 1p-E-9 軟 X 線ホログラフィ
- 31p GK-5 全反射X線の角度分布測定による鏡面の評価
- 第9回国際結晶学会議
- 27p-L-4 放射光X線トポグラフィ装置 I : 設計・製作・立上げと運転
- 31a-BF-9 Si単結晶中の積層欠陥の平面波X線トポグラフィ
- 10a-Z-5 転位の歪場の表面緩和の平面波X線トポグラフィ
- 2p-TG-2 結晶コリメーターを用いるX線回折投影法 II
- 31p GK-8 EXAFS迅速測定のための光学及び検出系
- 7a-H-5 時分割X線回折法によるNaNO_2の動的構造解析
- 27p-L-3 放射光小散乱カメラ
- 1p-AC-4 時分割X線回折法による骨格筋の収縮機構の研究
- 5p-N-10 位置検出器を用いるX線回折による骨格筋の収縮機構の研究
- 7a-H-4 高時間分解能X線回折法
- 12a-K-10 高歪み感度X線トポグラフィー用三結晶モノクロ・コリメータ
- 4a-KE-7 逆格子点の極く近傍におけるX線熱散漫散乱
- 6a-B-3 水晶のα-β相転移のX線回折法による研究II
- 11p-T-10 水晶のα-β相転移のX線回折法による研究
- 5a-P-9 水晶のα-β相転移の回折法による研究
- 9a-D-6 人工水晶における不純物濃度と格子定数の関係
- 5a-E-8 高感度テレビ撮像管のX線回折への応用II-二,三の応用例-
- 5a-E-3 Dauphine双晶の境界構造のX線トポグラフによる研究
- 26p-A-8 全反射条件における完全結晶のX線回折曲線の測定
- 3a-AD-2 彎曲結晶モノクロメーターの反射曲線の測定
- 29p-C-6 X線回折による結晶表面、界面の構造
- 29p-BPS-49 微小入射角X線定在波の吸着表面構造解析への応用
- Grazing-incidence条件の動力学的X線回折
- 28p-H-5 微小入射角条件における動力学的X線回折現象II
- 3a-G-1 X線スペクトロメーターによるロッキング・カーブの精密測定
- 13a-H-4 鏡面反射を考慮したBragg反射の検討II
- 6a-E-6 鏡面反射を考慮したBragg反射の検討
- 大学理・工学部(主として応用物理関係)の卒業研究の実状調査
- 大学理・工学部(主として応用物理関係)の卒業研究・実験等の調査について : 物理教育シンポジウム
- 4p-KE-7 中性子のSi単結晶における動力学的回折現象
- 機械加工した非晶質Pb80Si20合金のX線小角散乱
- 2p-N-1 粉末結晶プロフィル解析用の高分解能円筒型X線検出器
- 31p-BF-9 二次元位置検出器を使用したX線結晶構造解析装置
- 10p-Z-1 フォトン・ファクトリー計画の概要
- 5p-L-11 X線回折用二次元検出器
- 垂直入射X線定在波法による絶縁物/半導体の界面構造の研究
- θB〜90°のブラッグ反射の性質とそのX線定在波法への応用
- 5p-BK-6 X線回折による動的構造解析 II
- 実験メモ : X線位置敏感型計数管
- フォトン・ファクトリーにおけるX線光学系
- 22a-N-5 弯曲した結晶のブラッグケース回折現象
- 22a-N-3 Bragg caseの回折におけるX線波動場
- 22a-N-1 グリーン関数法のX線動力学的回折への応用
- 結晶構造解析へのX線テレビの応用
- 11p-T-6 X線光学的に拡大したトポグラフのテレビによる観察
- 10p-T-1 弯曲した単結晶におけるX線回折現象の平面波による研究
- 4p-P-1 X線結晶モワレの研究
- 9p-D-3 高感度テレビ撮像管のX線回折への応用 III : 構造解析への応用の試み
- Grazing-incidence条件の動力学的X線回折
- X線、中性子線リートベルト法によるビスマス酸化物の結晶構造解析
- X線粉末回折デ-タによるホウ窒化マグネシウムMg3BN3の結晶構造解析
- (Ba1-xLax)2YCu3Oyの結晶構造解析
- セラミックスの評価法-3-(3)格子欠陥の直接観察--X線トポグラフィ-(セラミックス基礎工学講座)
- X線位置検出器と動的構造研究
- 3p-KE-7 シリコン単結晶における微小格子欠陥の研究
- 微小角X線定在波法によるエピタキシャル薄膜の格子歪
- 微小角X線散乱法による薄膜の電子密度分布と構造の面内相関の研究
- 非対称反射を用いた複結晶法による格子歪の観察 : X線・粒子線
- X線二結晶スペクトロメーターによる格子歪みの精密測定 : 格子欠陥
- フォトンファクトリー計画研究会
- Si無転位単結晶中の点状欠陥 : 格子欠陥
- 12a-K-9 X線二結晶法によるSi単結晶中の極微小欠陥の観察
- 8p-D-3 パネルディスカッション : 超強力X線束の発生と応用
- 13a-H-10 弯曲結晶モノクロメーターを用いるX線回折顕微法
- 単結晶におけるX線回折に伴う非弾性散乱強度の変化II : X線粒子線
- 單結晶におけるX線回折に伴う非彈性散乱強度の変化 : 粒子線・X線
- 5a-E-7 高感度テレビ撮像管のX線回折への応用I-基礎的特性-
- BaをLaで置換したBYCOの中性子線・X線リートベルト解析
- X線=結晶スペクトロメーターによる単結晶回折現象の研究 : 粒子線・X線
- イメージ・インテンシファイヤーの雑音
- 5a-E-6 薄い結晶におけるX線の動力学的回折現象-ブラッグの場合-
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- 31p-CF-4 微小入射角条件における動力学的X線回折現象(31p CF X線・粒子線)
- 31p-CF-5 GeのX線温度散乱の絶対測定(31p CF X線・粒子線)