杉田 吉充 | 日立中研
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概要
関連著者
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杉田 吉充
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伴野 正美
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著作論文
- GeI_4を用いたGeの気相成長 : 半導体(エピタキシー)
- 3a-G-2 非対称反射によるX線回折像の変化
- Si HomoepitasyのMisfit Dislocation II : X線, 粒子線
- ゲルマニウムに対するインジウム融液の濡れ : XX. 半導体
- ゲルマニウム単結晶の成長模様 : XX. 半導体
- 再結晶ゲルマニウムの成長錐 : 半導体
- ゲルマニウム再結晶層の縞状成長模様 : 半導体
- 4a-L-6 ゲルマニウム単結晶の成長機構と格子欠陥
- 4a-L-5 ゲルマニウムの(110)辷り
- 11a-M-2 ゲルマニウム再結晶層の欠陥構造
- 11a-M-1 ゲルマニウム単結晶の成長模様
- Si HomoepitasyのMisfit Dislocation I : X線, 粒子線
- 13p-H-5 集積回路用シリコン結晶への応用
- 非対称反射を用いた複結晶法による格子歪の観察 : X線・粒子線
- X線二結晶スペクトロメーターによる格子歪みの精密測定 : 格子欠陥
- シリコン結晶中の欠陥 : 格子欠陥
- 9a-M-11 シリコン中の欠陥構造
- 9p-K-6 X線二結晶スペクトロメーターによる格子歪みの場所的分布の精密測定
- 単結晶における格子歪みのX線による精密測定: 粒子線・X線
- 3結晶スペクトロメーターによる格子歪みの精密測定(X線)
- 6a-B-7 再成長Ge薄層中の転位
- 19L-22 再結晶ゲルマニウムの欠陥