岸野 正剛 | 日立中研
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
岸野 正剛
日立中研
-
岸野 正剛
日立製作所
-
磯前 誠一
日立中研
-
石井 満
湘南工大
-
高木 一正
日立中研
-
石井 満
日立中研
-
飯田 進也
日立中研
-
高木 一正
(株)日立製作所基礎研究所
-
高良 和武
東大工
-
小切間 正彦
日立中研
-
岡野 寛
日立中研
-
戸村 光一
日立中研
-
野田 敦子
日立中研
-
高良 和武
東大・工
-
高橋 正毅
日立中研
-
杉田 吉充
日立中研
-
倉田 一宏
日立中研
-
田口 快男
日立中研
著作論文
- X線トポグラフィーによるGGG結晶の格子欠陥の検討 : 酸化物
- X線によるGd_3Ga_5O_単結晶のfacetとstriationの観察 : 酸化物
- 13a-N-5 X線によるGd_3Ga_5O_単結晶のファセットとストラエーションの観察
- 湾曲結晶によるX線スキヤニング像の検討 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- 3a-A-2 GaPホモエピタキシーにおけるらせんタイプのミスフィット転位
- 30a-U-1 GaAs_P_x 結晶のクロスハッチ・パターン
- 4p-P-6 非対称回折効果による異常透過現象の促進
- 6a-KG-10 LPEガーネット膜のミスフィットと結晶系
- 5a-E-5 GaAsエピタキシャル層および界面のX線による観察
- 8p-N-10 GaAs成長層一基板における面状欠陥の観察
- GaAsエピタキシャル層の欠陥 : 結晶成長
- 軟X線と非対称回折を使った薄膜結晶およびバルク結晶の評価
- 22a-N-6 非対称回折における異常吸収係数
- 8a-D-3 格子定数の新しい測定法
- X線干渉計による結晶の観察(I) : X線粒子線
- 3a-G-2 非対称反射によるX線回折像の変化
- 13a-H-4 鏡面反射を考慮したBragg反射の検討II
- 6a-E-6 鏡面反射を考慮したBragg反射の検討