中山 貫 | 計量研
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概要
関連著者
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中山 貫
計量研
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中山 貫
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田中 充
計量研究所
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田中 充
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Kek-pf
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計量研究所
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計量研究所
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著作論文
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- ナノメータオーダの計測技術の現状と将来(ナノテクノロジー構築最前線 : その哲学と動向)
- 12p-T-1 PF精密X線光学実験装置 : I概要
- X線干渉計とその応用
- 一体型微動機構に用いられる円弧切り欠き支点のまげ弾性
- 単結晶半導体表面に発生させた微小なひびの原子間力顕微鏡による観察
- 1a-TG-11 三結晶ディフラクトメーターによるSi,Geの原子散乱因子の精密測定
- 27p-K-13 放射光を用いた10^級結晶格子パラメーター精密測定システムの開発
- 4p-P-7 三結晶法によるGeの構造因子の精密測定
- 2p-M-11 各種の中性子干渉計の製作
- 3a-BF-11 二要素の中性子線干渉計
- 結晶によるX線γ線の回折と角度の精密測定
- マイケルソン型X線干渉計
- 単位は量である
- STMファミリ-におけるレ-ザ-の利用
- 単結晶を用いたX線光学素子とX線干渉計 (X線光学特集)
- 単結晶シリコンの原子間隔を測る
- 格子定数絶対測定用X線干渉計
- 三結晶ディフラクトメーターによる回折強度曲線の測定 : X線粒子線
- 5p-E-10 三結晶ディフラクトメーターによるSi,Geの原子散乱因子の精密測定
- 5a-E-6 薄い結晶におけるX線の動力学的回折現象-ブラッグの場合-
- 27a-CA-8 等価原理の検証実験(宇宙線(相対論・重力・宇宙物理))