中山 貫 | 計量研究所
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概要
関連著者
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中山 貫
計量研究所
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中山 貫
計量研究所アボガドロ・グループ
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田中 充
計量研究所
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藤本 弘之
産総研
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藤本 弘之
計量研究所アボガドロ・グループ
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藤本 弘之
計量研究所
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梶谷 誠
電気通信大学
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益田 正
静岡理工科大学
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中山 貫
計量研
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渡部 司
産業技術総合研
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中山 貫
産業技術総合研究所
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益田 正
静岡理工科大学理工学部:(現)オーム電機株式会社
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渡部 司
計量研究所
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田中 充
計量研
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藤井 賢一
計量研究所アボガドロ・グループ
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藤井 賢一
計量研究所
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根津 嘉明
計量研究所
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根津 嘉明
通商産業省工業技術院計量研究所
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根津 嘉明
工業技術院計量研究所
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松下 正
Kek-pf
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松下 正
東大工
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三木 幸信
計量研究所
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三木 幸信
計量研
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諸隈 肇
オリンパス光学工業(株)
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沖津 康平
東京大学工学部総合研究機構ナノ工学研究センター
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津田 展宏
計量研究所
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安藤 正海
東京大学工学部
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塩田 ふゆひこ
計量研
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藤井 雄作
計量研
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塩田 ふゆひこ
計量研究所
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藤井 雄作
計量研究所
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黒田 和明
計量研究所
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松下 正
東京大学工学部
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諸隈 肇
オリンパス光学顧問
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沖津 康平
科学技術振興事業団(計量研究所)
著作論文
- Avogadro 定数の絶対測定
- ナノメータオーダの計測技術の現状と将来(ナノテクノロジー構築最前線 : その哲学と動向)
- 超伝導磁気浮上体の重力位置エネルギーの絶対測定
- 結晶によるX線γ線の回折と角度の精密測定
- 7p-X-10 反転二結晶X線干渉計による結晶構造因子の位相の決定 : 測定原理と予備的実験
- ロータリーエンコーダの高精度校正装置の開発(第1報) : 校正システムと基礎実験
- ロータリーエンコーダの高精度角度校正装置の開発
- ロータリーエンコーダの高精度自動角度校正装置の開発
- 格子定数の絶対測定
- 精密メカニズムの開発
- シリコン格子定数の絶対測定とアボガドロ定数の決定
- X線回折の精密測定への応用
- タイトル無し
- 30p-TH-3 シリコン(220)面間隔のX線/光波干渉計による測定(30pTH X線・粒子線)