高良 和武 | KEK
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概要
関連著者
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高良 和武
KEK
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松下 正
Kek
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大柳 宏之
電総研
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高良 和武
高工研
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松下 正
高エ研
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松下 正
Kek-pf
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伊藤 正久
理研
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石黒 武彦
電総研
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黒田 晴雄
東大理
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黒田 晴雄
東大理、新技術開発事業団
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石川 哲也
東大工
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松下 正
高エ研放射光
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石田 秀信
島津製作所
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高良 和武
高エ研
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高良 和武
東京大学
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安藤 正海
KEK
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徳本 圓
電総研
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白川 英樹
筑波大物質
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細谷 資明
物性研
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高良 和武
東大・工
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白川 英樹
内閣府総合科学技術会議
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Hodgson K.o.
Stanford大
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松下 正
東大・工
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高良 和武
東京大学工学部
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松下 正
東京大学工学部
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Stephenson G.b.
Ssrl
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Phizackery R.P.
SSRL
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Rek Z.U.
SSRL
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Conradson S.D.
Stanford大
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飯高 洋一
東大・薬
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石川 哲也
KEK-PF
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菊田 惺志
東大工
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河田 洋
高エ研
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深町 共栄
埼玉工大
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入戸野 修
福島大学共生システム理工学類
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入戸野 修
東工大工
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鈴木 茂雄
三洋筑波rc
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鈴木 茂雄
東京工大理
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細谷 資明
東大物性研
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石川 哲也
KEK-KF
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早川 和延
日立中研
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平田 治義
堀場製作所
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中野 裕司
埼玉工大
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鈴木 茂雄
東工大理
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中山 貫
計量研究所アボガドロ・グループ
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安中 正一
東商船大
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早川 和延
日立中研:x線トポグラフィ立上げ・運転グループ
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入戸野 修
東京工業大学工学部金属工学科
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白川 英樹
筑波大・工
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井村 徹
名大工
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千川 純一
NHK基礎研
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佐々木 泰三
KEK
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佐々木 泰三
高工研
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岸野 正剛
日立製作所
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長倉 繁磨
東工大工
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橋爪 弘雄
東工大工材研
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河田 洋
富山大理
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根本 宏明
筑波大
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田中 一宣
電総研
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伊藤 正久
原研
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中山 貫
計量研
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入戸 野修
東工大工
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小谷 晴夫
堀場製作所
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千川 純一
KEK・PF
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安中 正一
商船大
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長倉 繁磨
東京工大・工
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高良 和武
東大.工
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石田 秀信
東大・工
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松下 正
東大.工
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松下 正
東大 工学部
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高良 和武
東大 工学部
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田中 一宣
Jrcat-融合研
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石田 秀信
東京大学工学部
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白川 英樹
筑波大
著作論文
- 12p-T-3 PF精密X線光学実験装置III : SRの偏光度測定と偏光面の回転
- 27p-L-4 放射光X線トポグラフィ装置 I : 設計・製作・立上げと運転
- 2a-NR-1 角度分解型平面波X線トポグラフィによる転位像 II
- 12a-Q-5 臭素をドープしたポリアセチレンの偏光依存EXAFS
- 27p-L-1 フォトンファクトリーEXAFS測定装置
- 30a-G-12 臭素をドープしたポリアセチレンのEXAFS
- 27a-SB-22 アモルファスGeTeのEXAFS
- 2p-KK-10 放射光を利用した蛍光EXAFS測定装置の開発と応用
- 複結晶配置による単結晶の完全性の評価(Growth and Characterization of Silicon Crystals)
- 4p-L-5 不純物を多く含むシリコン単結中の転位のX線平面波像
- 4p-P-7 三結晶法によるGeの構造因子の精密測定
- 1p-E-8 X 線用の単結晶モノクロ・コリメーター
- 9a-D-10 ブラッグ角が90°の場合の回折現象
- 1p-M-12 放射光を用いた高速EXAFS測定法II
- 1p-M-11 放射光を用いた高速EXAFS測定法I
- X線光学とその応用
- タイトル無し