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入沢 寿史 | 東大院工
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高橋 敏男
東大物性研
中谷 信一郎
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Jasri
坂田 修身
JASRI
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隅谷 和嗣
東大物性研
白木 靖寛
東大院工
入沢 寿史
東大院工
著作論文
27pWG-1 表面X線回折を用いたイメージング法によるSi/Ge/Si(001)界面構造解析(27pWG X線・粒子線,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野))
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