河田 洋 | Kek物構研

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概要

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• Kek物構研の論文著者

関連著者

• 河田 洋

  Kek物構研

• 高橋 敏男

  東大物性研

• 秋本 晃一

  名大院工

• 秋本 晃一

  名工大

• 杉山 弘

  Kek Pf

• 張 小威

  高エネ研物構研

• 秋本 晃一

  名大工

• 田尻 寛男

  JASRI

• 田尻 寛男

  高輝度光科学研究センター

• 中谷 信一郎

  東大物性研

• 隅谷 和嗣

  東大物性研

• 田尻 寛男

  東大物性研

• 張 小威

  高エ研PF

• 杉山 弘

  高エ研

• 河田 洋

  高エ研

• 張 小威

  高エ研

• 杉山 弘

  高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所

• 高橋 敏男

  東京大学物性研究所

• 一宮 彪彦

  名大工

• 一宮 彪彦

  名古屋大学工学部

• 榎本 貴志

  名大工

• 榎本 貴志

  豊田工業高専

• 吉田 隆司

  東大物性研

• 矢代 航

  東大新領域

• 矢代 航

  物材機構ナノマテ:産総研ナノテク

• 堀井 新司

  名大工

• 岡野 達雄

  東大生研

• 星野 崇

  東大物性研

• 河田 洋

  KEK-PF

• 増沢 航介

  東大物性研

• 矢代 航

  東大物性研

• 松本 益明

  東大生産研

• 岡野 達雄

  東大生産研

• 杉田 吉充

  富山大・理

• 杉田 吉充

  富山大理物理

• 杉山 弘

  KEK物構研

• 飯田 敏

  富山大学理学部物理学科

• 飯田 敏

  富山大理

• 杉山 弘

  高工研PF

• 張 小威

  高工研PF

• 杉山 弘

  富山大理

• 畑 敦

  名大工

• 杉田 吉充

  富山大理

• 一宮 彪彦

  原子力機構先端基礎研

• 張 小威

  KEK-PF

• 河田 洋

  物構研

• 村田 好正

  東大生研

• 河田 洋

  高工研

• 河田 洋

  高エ研PF^c

• 一宮 彪彦

  名古屋大学大学院工学研究科

• VOEGELI Wolfgang

  東大物性研

• 杉山 弘

  高エ研PF

• 野島 健大

  東大物性研

• 新井 大輔

  東大物性研

• Vobegeli Wolfgang

  東大物性研

• 橋本 光博

  東大物性研

• 村田 好正

  電通大物理

• Voegeli W.

  東大物性研

• 坂田 修身

  JASRI

• 張 小威

  物構研

• 杉山 弘

  KEK-PF

• 杉山 弘

  物構研

• 張 小威

  物構研PF

• 清水 圭介

  東大物性研

• 河田 洋

  KEK・PF

• 坂田 修身

  Jst-crest:高輝度光科学研

• 坂田 修身

  高輝度光科学研究センター

• 坂田 修身

  Spring-8 Jasri

• 坂田 修身

  財団法人 高輝度光科学研究センター

• Voegeli W.

  名大工

• 青山 朋弘

  名大工

• 浦田 明晃

  名大工

• 久田 祥之

  デンソー基礎研

• 光岡 義仁

  デンソー基礎研

• 向中野 信一

  デンソー基礎研

• 一宮 彪彦

  名古屋大学

• Kundu Manisha

  電通大

• Kundu Manisha

  電通大物理

• 杉山 弘

  高工研

• 張 小威

  高工研

• 佐藤 昌史

  高工研

• 河田 洋

  高工研PF

• 張 小威

  KEK物構研

• 河田 洋

  Kek

• 松井 宏純

  富山大理

• 坂田 修身

  財団法人 高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門

• 坂田 修身

  高輝度光科学研究センター放射光研究所利用促進部門

• Ito S.

  名大工

• Yashiro W.

  東大物性研

• Nakatani S.

  東大物性研

• Wolfgang Voegeli

  東大物性研

• Voegelin Wolfgang

  KEK-PF

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著作論文

• 26pXC-4 X線回折によるSi(111)-6×1(3×1)-Ag表面の3次元的な原子配列の研究(表面・界面構造(シリコン表面),領域9(表面・界面, 結晶成長))
• 20aPS-27 X 線 CTR 散乱低温試料マニピュレータの開発と Si(111)-6x1-Ag 表面構造の研究
• 22aXJ-10 酸化によるSiC(0001)-3×3と√×√-R30°表面構造の変化(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 26pYA-6 6軸X線回折計による表面・界面構造の評価
• 30aPS-35 表面X線回折法による埋もれたSi(111)-5×2-Au構造の研究(30aPS 領域9ポスターセッション(表面,界面,結晶成長),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 21aPS-36 表面X線回折法によるSi(111)-Auの埋もれた界面構造の研究(領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 28p-H-6 X線セクショントポグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察III
• 1a-N-11 X線セクションポトグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察
• 27aXE-3 表面X線回折法によるAg/Si(111)界面の√構造とIETモデル
• 22pT-5 表面X線回折法によるAg/Si界面の構造
• 19pPSB-33 微小角入射X線回折法によるSi(111)-√×√-Ag表面の低温相の構造評価II
• 17pWD-8 表面X線回折法によるSi(111)-√×√-Ag上のAg薄膜の結晶配向性
• 27aXE-4 微小角入射X線回折法によるSi(111)√×√-Ag表面の低温相の構造評価
• 24pPSA-13 表面X線回折法によるSi(111)-√×√-(Ag+Au)表面の構造解析

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