杉田 吉充 | 富山大・理
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概要
関連著者
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杉田 吉充
富山大・理
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飯田 敏
富山大学理学部物理学科
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飯田 敏
富山大・理
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杉田 吉充
富山大理物理
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杉田 吉充
富山大理
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河田 洋
高エ研・放射光
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岡部 俊夫
富山大・理
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岡部 俊夫
富山大
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飯田 敏
富山大理
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河田 洋
KEK・PF
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浦 勝彦
富山大理物理
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阿部 孝夫
信越半導体(株)半導体研究所
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阿部 孝夫
信越半導体
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阿部 孝夫
信越半導体kk
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沖津 康平
高工研(放射光)
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河田 洋
KEK-PF
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上田 和浩
日立・日立研
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浦 勝彦
富山大・理・物理
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金井 実代
富山大理物理
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岡部 俊夫
富山大理物理
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岡部 俊夫
富山大・理・物理
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河田 洋
Kek
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上田 和浩
富山大学 理学部
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笠置 延生
富山大・理
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竹野 博
富山大・理
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杉山 弘
富山大理
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河田 洋
Kek物構研
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岡本 謙一
東京タングステン(株)
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加藤 昌宏
東京タングステン
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岡部 俊夫
富山大理
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中村 公弘
富山大理
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飯田 敏
富山大学・理学部
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青木 嘉郎
富山大理
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経田 昌幸
富山大学 理学部
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杉田 吉充
富山大学・理学部
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沖津 康平
富山大・理
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宮崎 政志
富山大・理
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岡本 謙一
東京タングステソ株式会社富山工場
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寺内 暉
関学大理工
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原田 敬次
富山大・理
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河田 洋
高エ研
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早瀬 修一
関学大 理
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吉田 正幸
九州芸工大
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竹野 博
信越半導体(株)
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石松 直樹
富山大・理
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乙木 洋平
日立電線(株)
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金井 実代
富山大・理・物理
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神初 嘉津美
富山大理
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岡部 俊夫
富山大学大学院 理工学研究科
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伊東 芳子
理研
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沖津 康平
富山大理
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河田 洋
高エ研・PF
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三船 達也
富山大・理
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師岡 正美
福岡工大
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雨宮 慶幸
高エ研
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高橋 学
福工大
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原田 敬次
富山大理
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河田 洋
高工研(放射光)
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杉田 吉充
富山大学理学部
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飯田 敏
富山大学 理学部
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杉田 吉充
富山大学 理学部
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上田 和浩
富山大学・理学部
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経田 昌幸
富山大学・理学部
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上田 和浩
富山大・理
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高橋 学
福岡工大
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雨宮 慶幸
KEK・PF
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矢合 康悦
富山大・理
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千川 純一
KEK・PF
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西谷 晃
関学大理
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早瀬 修一
関学大理
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松井 宏純
富山大理
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吉田 正幸
吉田半導体研究所
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野崎 正
理研
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中村 公弘
富山大・理
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飯田 敏
富山大学理学部・物理
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寺内 暉
関学大理
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竹野 博
富山大理
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早瀬 修一
関西学院大理
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早瀬 修一
関学大・理
著作論文
- 1p-M-4 TEMとX線トポグラフィーによるLEC GaAs結晶中のgrown-in転位の観察
- Ag_2Se低温相における化学量論比からのずれと結晶構造 : 薄膜
- 29p-L-7 β-Ag_2Seにおける化学量論比からのずれと結晶構造
- 2p-E-7 アモルファスGe・Sの結晶化と相分離
- 30a-F-1 α-Ag_2Seホイスカの成長 (II)
- α-Ag_2Seホイスカの成長
- 4a-W-8 X線用モノクロメーターとしてのタングステン単結晶の評価
- 30a-ZB-5 X線用モノクロメーターとしてのタングステン単結晶の評価 II
- 4a-YG-10 As-grown CZ-Si結晶中の微小欠陥のX線トポグラフィ観察
- 15a-DL-5 高エネルギーX線セクショントポグラフィーによるAs-Grown CZ-シリコン結晶中の微小欠陥の定量的評価
- 放射光トポグラフィーによるシリコン結晶中の微小欠陥の観察 - 高エネルギーX線・高次反射の利用 -
- 31p-ZB-12 結晶傾斜法によるシリコン結晶の結晶完全性と統計的動力学理論による解析
- 高次反射を用いたX線トポグラフィによる結晶評価
- 27p-L-11 結晶傾斜法によって測定した微小欠陥を含むCzシリコン結晶におけるペンデル振動
- X線トポグラフィによるシリコン結晶の評価 : 招待講演II
- 3p-E-5 シンクロトロン放射光を用いた高次反射トポグラフ法によるSi中微小欠陥の研究
- 4a-Z-3 X線高次反射トラバーストボグラフ法によるFZ-Si結晶中の微小欠陥の観察
- FZシリコン結晶中のストリエーション : 評価
- 2p-F-7 シリコン中の金拡散と積層欠陥
- 5a-P-1 イメージングプレートによるX線高次反射セクショントポグラフ法
- 4a-B5-3 高次反射によるセクショントポグラフ法とその応用
- 26p-A-10 結晶傾斜法によるシリコン結晶中の微小欠陥の研究
- 28p-H-6 X線セクショントポグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察III
- 1a-N-11 X線セクションポトグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察
- 1a-UB-7 X線二結晶法によるBaTiO_3表面層の研究
- 1a-KN-1 X線二結晶法によるBaTiO_3表面層
- 2p-NJ-14 シリコン中の金の拡散における微小欠陥の効果
- 5a-NR-10 アモルファスGe-Sの結晶化
- 5p-NR-8 α-Ag_2Seホイスカの成長
- アモルファスGe-Se薄膜の結晶化
- 3a-NR-1 非晶質合金膜の結晶化によるGeSe_2準安定相
- 28p-EB-7 X線セクショントポグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察IV(X線・粒子線)