5a-P-1 イメージングプレートによるX線高次反射セクショントポグラフ法
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1989-09-12
著者
-
飯田 敏
富山大・理
-
河田 洋
高エ研・放射光
-
河田 洋
KEK・PF
-
杉田 吉充
富山大・理
-
飯田 敏
富山大学理学部物理学科
-
雨宮 慶幸
高エ研
-
笠置 延生
富山大・理
-
竹野 博
富山大・理
-
雨宮 慶幸
KEK・PF
関連論文
- シンクロトロン放射光のスリットによるフラウンホーファー回折
- レインボー・ガーネットの白色X線トポグラフィー
- 28a-B-8 X線共鳴交換散乱における双極・四重極遷移の寄与
- 24p-PS-63 Nd_2Fe_B化合物のX線共鳴交換散乱
- 2a-F-10 R_2Fe_B化合物のX線共鳴磁気嫉乱II
- 2a-F-9 R_2Fe_B化合物のX線共鳴磁気散乱III
- 30a-PS-2 R_2Nd_B化合物のX線磁気錯乱I
- 1p-M-4 TEMとX線トポグラフィーによるLEC GaAs結晶中のgrown-in転位の観察
- Ag_2Se低温相における化学量論比からのずれと結晶構造 : 薄膜
- 29p-L-7 β-Ag_2Seにおける化学量論比からのずれと結晶構造
- 2p-E-7 アモルファスGe・Sの結晶化と相分離
- 30a-F-1 α-Ag_2Seホイスカの成長 (II)
- α-Ag_2Seホイスカの成長
- シンクロトロン放射光によるX線回折画像計測技術の進歩
- 28aYR-9 SrTi(^O_^O_x)_3の低温ラウエトポグラフィー
- 22pYH-11 SPring-8における低温ラウエトポグラフィーの開発
- 4a-W-8 X線用モノクロメーターとしてのタングステン単結晶の評価
- 31a-B-13 波長可変型X線ポラリメーターによるファラデー効果の測定II
- 5a-X-7 波長可変型X線ポラリメーターの製作とファラデー効果の測定
- 29p-YM-11 イメージングプレートのフェーディングの定量測定
- 5a-B5-12 10^精度の絶対格子定数測定システムの開発
- 30a-ZB-5 X線用モノクロメーターとしてのタングステン単結晶の評価 II
- 8a-S-13 低速引き上げSi結晶中grown-in微小欠陥の放射光トポグラフィ観察III
- 31p-A-13 ブラッグケースのセクショントポグラフィによるシリコン結晶中微小欠陥の観察
- 31p-A-12 統計的動力学理論の実験的検証II
- 統計的動力学理論の実験的検証
- 低速引き上げSi結晶中as-grown微小欠陥の放射光トポグラフィ観察II
- 3p-M-11 引き上げ途中その場アニールされたCZ-Si結晶中微小欠陥の高エネルギー放射光トポグラフィ観察
- 3p-M-10 低速引き上げSi結晶中as-grown微小欠陥の放射光トポグラフィ観察
- 24aWX-2 放射光X線トポグラフィによるCZシリコン結晶ネック部の転位の三次元分布観察(24aWX 結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 24pYK-9 X線回折トポグラフィによるリラクサー結晶PZN-9%PTのドメイン観察(24pYK 誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 20pYM-10 リラクサー結晶PZNの白色X線トポグラフィ(誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 4a-W-6 コンプトン散乱実験用2次元湾曲結晶分光器の製作
- 2p-KK-1 ウィグラ放射光用ビーム・ライン(BL14)の建設
- 4a-YG-10 As-grown CZ-Si結晶中の微小欠陥のX線トポグラフィ観察
- 15a-DL-5 高エネルギーX線セクショントポグラフィーによるAs-Grown CZ-シリコン結晶中の微小欠陥の定量的評価
- 放射光トポグラフィーによるシリコン結晶中の微小欠陥の観察 - 高エネルギーX線・高次反射の利用 -
- 31p-ZB-12 結晶傾斜法によるシリコン結晶の結晶完全性と統計的動力学理論による解析
- 高次反射を用いたX線トポグラフィによる結晶評価
- 27p-L-11 結晶傾斜法によって測定した微小欠陥を含むCzシリコン結晶におけるペンデル振動
- X線トポグラフィによるシリコン結晶の評価 : 招待講演II
- 3p-E-5 シンクロトロン放射光を用いた高次反射トポグラフ法によるSi中微小欠陥の研究
- 4a-Z-3 X線高次反射トラバーストボグラフ法によるFZ-Si結晶中の微小欠陥の観察
- FZシリコン結晶中のストリエーション : 評価
- 2p-F-7 シリコン中の金拡散と積層欠陥
- 5a-P-1 イメージングプレートによるX線高次反射セクショントポグラフ法
- 4a-B5-3 高次反射によるセクショントポグラフ法とその応用
- 26p-A-10 結晶傾斜法によるシリコン結晶中の微小欠陥の研究
- 28p-H-6 X線セクショントポグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察III
- 1a-N-11 X線セクションポトグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察
- 1a-UB-7 X線二結晶法によるBaTiO_3表面層の研究
- 27p-L-3 放射光小散乱カメラ
- 25p-S-4 定在波下でのXANES及び磁気XANES
- ストライエーション
- トポ・トモグラフィ技術を併用した放射光白色トポグラフィによる転位の3D構造決定
- 24pYS-12 放射光平面波X線を用いたgrown-in欠陥を含むシリコン結晶の回折強度曲線測定(X線・粒子線(X線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
- SPring-8におけるCZ-Si結晶中の転位の伝播挙動と三次元構造評価(半導体結晶成長III)
- Si単結晶インゴットのX線トポグラフィ : バルク結晶成長III
- 2p-N-3 超高感度X線フィルム(イメージングプレート)を用いた筋肉のX線回折
- 2p-N-2 超高感度X線フィルム(イメージング・プレート)の性能評価
- 1p-TJ-14 AR NEI・2結晶分光器の立上げとその応用
- 28a-PS-48 X線の磁気的共鳴散乱によるGd(20)/(10)多層膜の電子非占有準位分光法
- 25p-S-5 四重極遷移によるGdL_2, L_3 共鳴交換散乱スペクトル
- 7a-X-2 ブラッグケースのセクショントポグラフィによるシリコン結晶中微小欠陥の観察 II
- 7a-X-1 GaAs結晶中のX線トポグラフに見られた転位像の白黒コントラスト
- 1p-KN-8 強誘電体-反強誘電体混晶系のダイポール・グラス
- 1a-KN-1 X線二結晶法によるBaTiO_3表面層
- 2p-NJ-14 シリコン中の金の拡散における微小欠陥の効果
- 4p-E4-8 Li金属液体の高分解能コンプトンプロフィル
- 5a-NR-10 アモルファスGe-Sの結晶化
- 5p-NR-8 α-Ag_2Seホイスカの成長
- 31a-B-8 二次元X線検出器における画像ひずみの補正法
- D欠陥
- スワール
- 真性点欠陥
- 3. 微少量・高精度・極限に迫る トポグラフィでSi結晶の欠陥を観る
- ポリ (ε-カプラクトン) /ポリ塩化ビニル混合系の結晶化
- タンパク水溶液からのX線小角散乱の時分割測定
- アモルファスGe-Se薄膜の結晶化
- 3a-NR-1 非晶質合金膜の結晶化によるGeSe_2準安定相
- X線トポグラフィの三次元化と応用
- 28p-EA-12 TNM処理紫膜およびヨード化紫膜のX線回折的研究(生体物理)
- 28p-EB-7 X線セクショントポグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察IV(X線・粒子線)
- 1a-G-8 巨大分子液晶の濃度・磁場相転移II(1aG 生体物理,生体物理)
- 31a-B2-10 ミオシンSI灌流グリセリン筋のX線回折(31a B2 生体物理)
- 30a-BF-3 SOR光によるトニック収縮筋のX線回折(生体物理)