スワール

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 1997-02-28

著者

• 飯田 敏

  富山大・理

• 飯田 敏

  富山大学理学部物理学科

• 飯田 敏

  富山大学理学部・物理

関連論文

• シンクロトロン放射光のスリットによるフラウンホーファー回折
• レインボー・ガーネットの白色X線トポグラフィー
• 1p-M-4 TEMとX線トポグラフィーによるLEC GaAs結晶中のgrown-in転位の観察
• シンクロトロン放射光によるX線回折画像計測技術の進歩
• 28aYR-9 SrTi(^O_^O_x)_3の低温ラウエトポグラフィー
• 22pYH-11 SPring-8における低温ラウエトポグラフィーの開発
• 4a-W-8 X線用モノクロメーターとしてのタングステン単結晶の評価
• 30a-ZB-5 X線用モノクロメーターとしてのタングステン単結晶の評価 II
• 8a-S-13 低速引き上げSi結晶中grown-in微小欠陥の放射光トポグラフィ観察III
• 31p-A-13 ブラッグケースのセクショントポグラフィによるシリコン結晶中微小欠陥の観察
• 31p-A-12 統計的動力学理論の実験的検証II
• 統計的動力学理論の実験的検証
• 低速引き上げSi結晶中as-grown微小欠陥の放射光トポグラフィ観察II
• 3p-M-11 引き上げ途中その場アニールされたCZ-Si結晶中微小欠陥の高エネルギー放射光トポグラフィ観察
• 3p-M-10 低速引き上げSi結晶中as-grown微小欠陥の放射光トポグラフィ観察
• 24aWX-2 放射光X線トポグラフィによるCZシリコン結晶ネック部の転位の三次元分布観察(24aWX 結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 24pYK-9 X線回折トポグラフィによるリラクサー結晶PZN-9%PTのドメイン観察(24pYK 誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 20pYM-10 リラクサー結晶PZNの白色X線トポグラフィ(誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 4a-YG-10 As-grown CZ-Si結晶中の微小欠陥のX線トポグラフィ観察
• 15a-DL-5 高エネルギーX線セクショントポグラフィーによるAs-Grown CZ-シリコン結晶中の微小欠陥の定量的評価
• 放射光トポグラフィーによるシリコン結晶中の微小欠陥の観察 - 高エネルギーX線・高次反射の利用 -
• 31p-ZB-12 結晶傾斜法によるシリコン結晶の結晶完全性と統計的動力学理論による解析
• 高次反射を用いたX線トポグラフィによる結晶評価
• 27p-L-11 結晶傾斜法によって測定した微小欠陥を含むCzシリコン結晶におけるペンデル振動
• X線トポグラフィによるシリコン結晶の評価 : 招待講演II
• 3p-E-5 シンクロトロン放射光を用いた高次反射トポグラフ法によるSi中微小欠陥の研究
• 4a-Z-3 X線高次反射トラバーストボグラフ法によるFZ-Si結晶中の微小欠陥の観察
• FZシリコン結晶中のストリエーション : 評価
• 5a-P-1 イメージングプレートによるX線高次反射セクショントポグラフ法
• 4a-B5-3 高次反射によるセクショントポグラフ法とその応用
• 28p-H-6 X線セクショントポグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察III
• 1a-N-11 X線セクションポトグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察
• 1a-UB-7 X線二結晶法によるBaTiO_3表面層の研究
• ストライエーション
• トポ・トモグラフィ技術を併用した放射光白色トポグラフィによる転位の3D構造決定
• 24pYS-12 放射光平面波X線を用いたgrown-in欠陥を含むシリコン結晶の回折強度曲線測定(X線・粒子線(X線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
• SPring-8におけるCZ-Si結晶中の転位の伝播挙動と三次元構造評価(半導体結晶成長III)
• Si単結晶インゴットのX線トポグラフィ : バルク結晶成長III
• 7a-X-2 ブラッグケースのセクショントポグラフィによるシリコン結晶中微小欠陥の観察 II
• 7a-X-1 GaAs結晶中のX線トポグラフに見られた転位像の白黒コントラスト
• 1p-KN-8 強誘電体-反強誘電体混晶系のダイポール・グラス
• 1a-KN-1 X線二結晶法によるBaTiO_3表面層
• D欠陥
• スワール
• 真性点欠陥
• 3. 微少量・高精度・極限に迫る トポグラフィでSi結晶の欠陥を観る
• X線トポグラフィの三次元化と応用

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク