飯田 敏 | 富山大学理学部・物理

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概要

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関連著者

• 飯田 敏

  富山大学理学部・物理

• 飯田 敏

  富山大・理

• 飯田 敏

  富山大学理学部物理学科

• 近浦 吉則

  九工大

• 梶原 堅太郎

  高輝度光科学研究センター

• 近浦 吉則

  九州工業大学工学部自然科学教室

• 近浦 吉則

  九州工業大学工学部物質工学科

• 鈴木 芳文

  九州工業大学工学部物質工学科

• 川戸 清爾

  九州シンクロトロン光研究センター

• 川戸 清爾

  九州シンクロトロン

• 鈴木 芳文

  九州工業大学大学院工学研究科

• 梶原 堅太郎

  高輝度光科学研究所

• 近浦 吉則

  九州工業大学・大学院工学研究科

• 梶原 堅太郎

  高輝度光科学研究センター 産業利用推進室

• 川戸 清爾

  九州シンクロ

• 梶原 堅太郎

  高輝度光科学研究センタ

• 阿部 孝夫

  信越半導体(株)半導体研究所

• 太子 敏則

  東北大学金属材料研究所

• 太子 敏則

  信州大学教育学部

• 竹野 博

  信越半導体(株)

• 梶原 堅太郎

  Jasri Spring-8

• 阿部 孝夫

  信越半導体

• 阿部 孝夫

  信越半導体kk

• 杉田 吉充

  富山大・理

• 尾崎 徹

  広工大工

• 川戸 清爾

  理学電機(株)X線研究所

• 尾崎 徹

  広島工業大学工学部電子・光システム工学科

• 杉田 吉充

  富山大学理学部

• 向出 大平

  キヤノン(株)分析技術研究部

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著作論文

• シンクロトロン放射光によるX線回折画像計測技術の進歩
• 放射光トポグラフィーによるシリコン結晶中の微小欠陥の観察 - 高エネルギーX線・高次反射の利用 -
• ストライエーション
• トポ・トモグラフィ技術を併用した放射光白色トポグラフィによる転位の3D構造決定
• D欠陥
• スワール
• 真性点欠陥
• 3. 微少量・高精度・極限に迫る トポグラフィでSi結晶の欠陥を観る
• X線トポグラフィの三次元化と応用

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