河田 洋 | 高エ研・放射光
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概要
関連著者
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飯田 敏
富山大・理
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河田 洋
高エ研・放射光
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飯田 敏
富山大学理学部物理学科
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阿部 孝夫
信越半導体(株)半導体研究所
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阿部 孝夫
信越半導体
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阿部 孝夫
信越半導体kk
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杉田 吉充
富山大・理
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寺山 明哲
富山大学・理学部
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飯田 敏
富山大学・理学部
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杉浦 直樹
富山大学・理学部
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岩井 剛一
富山大学・理学部
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河田 洋
高エネルギー加速器研究機構・物質構造科学研究所・放射光科学研究施設
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石松 直樹
富山大学・理学部
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河田 洋
高エネルギー加速器研究機構 物質構造科学研究所
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沖津 康平
高工研(放射光)
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笠置 延生
富山大・理
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河田 洋
KEK-PF
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河田 洋
KEK・PF
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野上 幸子
富山大・理
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河田 洋
Kek
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沖津 康平
富山大・理
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竹野 博
富山大・理
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宮崎 政志
富山大・理
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北村 隆二
富山大学・理学部
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原田 敬次
富山大・理
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上田 和浩
日立・日立研
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岡本 謙一
東京タングステン(株)
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加藤 昌宏
東京タングステン
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杉田 吉充
富山大理物理
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飯田 敏
富山大理
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河田 洋
高エ研・PF
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三船 達也
富山大・理
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北村 隆二
富山大・理
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杉浦 直樹
富山大・理
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寺山 明哲
富山大・理
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小宅 俊浩
富山大・理
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小宅 俊浩
富山大学・理学部
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雨宮 慶幸
高エ研
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原田 敬次
富山大理
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青木 嘉郎
富山大理
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河田 洋
高工研(放射光)
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上田 和浩
富山大学 理学部
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杉田 吉充
富山大学・理学部
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上田 和浩
富山大・理
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雨宮 慶幸
KEK・PF
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野上 幸子
富山大学・理学部
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岡本 謙一
東京タングステソ株式会社富山工場
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杉田 吉充
富山大理
著作論文
- 30a-ZB-5 X線用モノクロメーターとしてのタングステン単結晶の評価 II
- 8a-S-13 低速引き上げSi結晶中grown-in微小欠陥の放射光トポグラフィ観察III
- 31p-A-13 ブラッグケースのセクショントポグラフィによるシリコン結晶中微小欠陥の観察
- 低速引き上げSi結晶中as-grown微小欠陥の放射光トポグラフィ観察II
- 3p-M-11 引き上げ途中その場アニールされたCZ-Si結晶中微小欠陥の高エネルギー放射光トポグラフィ観察
- 3p-M-10 低速引き上げSi結晶中as-grown微小欠陥の放射光トポグラフィ観察
- 4a-YG-10 As-grown CZ-Si結晶中の微小欠陥のX線トポグラフィ観察
- 3p-E-5 シンクロトロン放射光を用いた高次反射トポグラフ法によるSi中微小欠陥の研究
- 4a-Z-3 X線高次反射トラバーストボグラフ法によるFZ-Si結晶中の微小欠陥の観察
- FZシリコン結晶中のストリエーション : 評価
- 5a-P-1 イメージングプレートによるX線高次反射セクショントポグラフ法
- 1a-UB-7 X線二結晶法によるBaTiO_3表面層の研究
- 7a-X-2 ブラッグケースのセクショントポグラフィによるシリコン結晶中微小欠陥の観察 II
- 1a-KN-1 X線二結晶法によるBaTiO_3表面層