飯田 敏 | 富山大理
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概要
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小西 大輔
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国松 俊弘
日本コンデンサ
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吉本 宏
日本コンデンサ
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田 実
日本コンデンサ
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吉本 宏
ニチコン
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青木 嘉郎
富山大理
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西畑 保雄
関西学院大・理
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田辺 一宏
関西学院大理
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田 実
日本コンデンサ工業
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国松 俊弘
日本コンデンサ工業株式会社
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寺内 暉
関学大理
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竹野 博
富山大理
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伊藤 満
東工大応セラ研
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王 瑞平
産総研
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上杉 健太朗
JASRI/SPring-8
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阿部 孝夫
信越半導体(株)半導体研究所
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原田 敬次
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電総研
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石井 忠男
岡山大工
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寺内 暉
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吉村 順一
山梨大工
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山田 安定
阪大基工
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児島 俊郎
阪大基礎工
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坂上 潔
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九州シンクロ
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関西学院大学・理学部
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田 実
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阪大基工
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河田 洋
KEK.PF
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早瀬 修一
関西学院大理
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早瀬 修一
関学大・理
著作論文
- 28aYR-9 SrTi(^O_^O_x)_3の低温ラウエトポグラフィー
- 22pYH-11 SPring-8における低温ラウエトポグラフィーの開発
- 24aWX-2 放射光X線トポグラフィによるCZシリコン結晶ネック部の転位の三次元分布観察(24aWX 結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 24pYK-9 X線回折トポグラフィによるリラクサー結晶PZN-9%PTのドメイン観察(24pYK 誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 20pYM-10 リラクサー結晶PZNの白色X線トポグラフィ(誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 30a-E-4 パルスX線回析装置の開発 IV : 回析系
- 30a-E-3 パルスX線回析装置の開発 III : X線の性質
- 30a-E-2 パルスX線回折装置開発 II : 繰返し高圧発生装置
- 30a-E-1 パルスX線回折装置の開発 I : 概要
- 4a-YG-10 As-grown CZ-Si結晶中の微小欠陥のX線トポグラフィ観察
- 15a-DL-5 高エネルギーX線セクショントポグラフィーによるAs-Grown CZ-シリコン結晶中の微小欠陥の定量的評価
- 26p-A-10 結晶傾斜法によるシリコン結晶中の微小欠陥の研究
- 28p-H-6 X線セクショントポグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察III
- 1a-N-11 X線セクションポトグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察
- 14a-H-10 X線によるLi_2Ge_7O_の強誘電性相転移の研究
- 24pYS-12 放射光平面波X線を用いたgrown-in欠陥を含むシリコン結晶の回折強度曲線測定(X線・粒子線(X線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
- 1a-J-5 Rb_2ZnBr_4の低温におけるX線回折
- 1p-KN-8 強誘電体-反強誘電体混晶系のダイポール・グラス
- 27a-SB-23 EXAFS, SAXSによるアモーファスGeSeなどの構造的考察
- 30p-C-7 X線による白金(II, IV)混合原子価錯体の構造研究
- 2a-NK-6 TiMo合金の不整合構造 II
- 29a-K-7 Cu_Seのイオン伝導性と構造
- 12a-H-11 NH_Rb_H_2PO_4混晶の相転移
- 繰り返しパルスX線発生装置
- 2p-NE-10 80CBに於けるネマティック-スメクティックA相転移
- 28p-EB-7 X線セクショントポグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察IV(X線・粒子線)
- タイトル無し
- 31p-CF-9 X線セクショントポグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察II(31p CF X線・粒子線)