水野 薫 | 島根大学総合理工学部
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概要
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水野 薫
島根大理工
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水野 薫
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長崎大学教育学部生活健康講座
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小林 拓男
島根大理工
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平野 馨一
高エ研放射光
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古谷 吉男
長崎大 教育
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増永 和裕
金沢大理
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水野 薫
島根大総合理工
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柏 愉美子
電通大量子・物質工
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岡本 博之
金沢大医保健
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増永 和裕
金沢大自然
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古谷 吉男
長崎大教
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阿部 浩二
電通大量子
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梶原 堅太郎
JASRI
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梶原 堅太郎
高輝度光科学研究センター
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古谷 吉男
長崎大教育
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岡本 博之
金沢大学医学部保健学科
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藤下 豪司
金沢大自然
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重成 武
電気通信大学量子・物質工学
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重成 武
電通大
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重成 武
電気通信大学量子・物質工学科
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藤下 豪司
金沢大理
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重成 武
電通大量子・物質工学科
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猪上 謙三
金沢大医
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重成 武
電通大 物工
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梶原 堅太郎
高輝度光科学研究所
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古谷 吉男
長崎大 教
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藤下 豪司
金沢大数物
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海野 秀友
金沢大理
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海野 秀友
金沢大自然
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岡本 博之
金沢大学医学系研究科保健学専攻
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西田 勲夫
金属材料技術研究所
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河本 充司
北大院理
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中野 諭人
電通大量子・物質工
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平野 俊英
島根大学教育学部
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谷口 弘三
埼玉大理
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佐藤 一彦
埼玉大理
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飯田 敏
富山大・理
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谷口 弘三
埼玉大
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九工大
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新野 正之
航空宇宙技術研究所
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佐藤 亮介
埼玉大理
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留野 泉
秋田大教文
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佐藤 一彦
埼大院理工
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梶原 堅太郎
SPring-8
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水野 薫
島根大・理
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岡本 博之
金沢大理
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新野 正之
航空宇宙技術研究所角田宇宙推進研究センター
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越田 吉郎
金沢大医
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近浦 吉則
九工大工
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森 浩一
茨城県立医療大学
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梶原 堅太郎
Jasri Spring-8
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森 浩一
茨城県立医療大
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近浦 吉則
九州工業大学工学部物質工学科
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IMM-CNR
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Lovergine N.
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飯田 敏
富山大学理学部物理学科
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飯田 敏
富山大理
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野田 泰稔
島根大学総合理工学部
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阿部 浩二
電通大 量子・物質工学科
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康 燕生
東北大学大学院工学研究科材料加工プロセス学専攻
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電通大量子・物質工
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電通大量子・物質工
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富山大理
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田中 正樹
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日鉱金属
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平野 馨一
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東北大学大学院工学研究科
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目次 和恵
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長崎大学教育学部
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新野 正之
航空宇宙技術振興財団
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梶原 堅太郎
高輝度光科学研究センター 産業利用推進室
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梶原 堅太郎
高輝度光科学研究センタ
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阿部 浩二
電通大物工
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阿部 浩二
Univ.Electro-Commun. Dept.Appl.Phys.& Chem.
著作論文
- 23aHS-9 X線断層トポグラフィによる水晶中の欠陥の三次元可視化II(23aHS 格子欠陥・ナノ構造(シミュレーション,転位,点欠陥),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 28aYA-5 X線屈折コントラスト法によるチタン水素化物中の水素の拡散係数の決定(28aYA 格子欠陥・ナノ構造(水素),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- X線屈折コントラスト法によるTiおよびTiAl合金中の水素化物の可視化
- 25aYM-8 X線屈折コントラスト法によるチタン中の水素化物の観察II(格子欠陥・ナノ構造,領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
- 24aYL-2 β'-(BEDT-TTF)_2ICl_2の大型単結晶育成とその評価(ET-ICl_2, 超高圧力等,領域7(分子性固体・有機導体))
- 24aYF-8 ZnTeホモエピタキシャル半導体薄膜の放射光トポグラフィによる結晶評価(格子欠陥・ナノ構造(力学物性・転位),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 28aRB-1 水晶(SiO_2)の不整合相転移点近傍での分域形成過程(28aRB 誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 21aTE-6 X線トポグラフによる水晶のINC相相転移近傍の変調構造及び分域構造の観察(誘電体,領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 19pXA-6 光学及びX線トポグラフによる水晶の相境界近傍の変調構造の観察(誘電体,領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 20pYM-10 リラクサー結晶PZNの白色X線トポグラフィ(誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 23aYF-3 DEI法によるチタン中の水素化物の観察(格子欠陥・ナノ構造(水素),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 中温域熱電材料の作製と熱電特性
- 28aYK-10 X線屈折コントラスト法による漆器のウルシ層の画像化(X線・粒子線(X線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 28pRE-15 DEI法における密度変化分解能定量評価の試み(28pRE 領域10,領域5合同 X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRB-7 X線断層トポグラフィによる水晶中の欠陥の三次元可視化(27pRB 格子欠陥・ナノ構造(転位・表面・界面),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 19pXB-6 VGF成長したZnSeウエハーのX線トポ・トモグラフィ的手法による評価(格子欠陥・ナノ構造(半導体・ナノ粒子・表面界面),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 21aXA-9 GaAs 基板上の ZnSe 薄膜の微小角入射トポグラフ
- リフレッシュ理科教室 (中国四国支部島根会場) 開催報告
- 28pTJ-6 水晶中の新しいバーガースベクトルを持つ転位(28pTJ 格子欠陥・ナノ構造(金属・転位・点欠陥,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 22pGQ-5 水晶中の新しいバーガースベクトルを持つ転位(22pGQ 格子欠陥・ナノ構造(半導体・誘電体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 22pGQ-8 人工ダイヤモンド結晶中の格子欠陥(22pGQ 格子欠陥・ナノ構造(半導体・誘電体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 微小角入射X線トポグラフィによる半導体薄膜の結晶評価