19pXB-6 VGF成長したZnSeウエハーのX線トポ・トモグラフィ的手法による評価(格子欠陥・ナノ構造(半導体・ナノ粒子・表面界面),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2007-02-28

著者

• 岡本 博之

  金沢大医

• 水野 薫

  島根大理工

• 朝日 聡明

  日鉱金属

• 岡本 博之

  金沢大学医薬保健研究域

• 水野 薫

  島根大学総合理工学部

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