22pYS-1 SPring-8白色X線トポグラフィックカメラによるNb_3Te_4単結晶の観察

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 社団法人日本物理学会の論文
• 2000-09-10

著者

• 近浦 吉則

  九工大

• 梶原 堅太郎

  高輝度光科学研究センター

• 岡本 博之

  金沢大医

• 水野 薫

  島根大理工

• 空閑 正紀

  金沢大理

• 近浦 吉則

  九工大工

• 梶原 堅太郎

  九工大工

• 梶原 堅太郎

  Jasri Spring-8

• 近浦 吉則

  九州工業大学工学部物質工学科

• 白石 一郎

  島根大理工

• 梶原 堅太郎

  高輝度光科学研究所

• 梶原 堅太郎

  高輝度光科学研究センター 産業利用推進室

関連論文

• 23aHS-9 X線断層トポグラフィによる水晶中の欠陥の三次元可視化II(23aHS 格子欠陥・ナノ構造(シミュレーション,転位,点欠陥),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 3549 AC4CH予き裂材の疲労特性に対するレーザピーニング処理の効果(S12-3 軽金属合金,S12 先進性金属材料の疲労特性と組織)
• 1049 放射光によるA7050に付与した二本の疲労き裂の合体挙動調査(J12-3 金属材料の疲労特性と破壊機構(3) 軽金属の疲労,ジョイントセッション,21世紀地球環境革命の機械工学:人・マイクロナノ・エネルギー・環境)
• 314 μCT技術による7050アルミニウム合金の疲労き裂進展挙動調査(計測・評価技術,破壊の発生・進展とその解析・評価・計測,オーガナイスドセッション7)
• 20aHX-1 擬一次元導体In_xNb_3Te_4における過渡熱起電力効果測定(20aHX 超伝導・電荷密度波,領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
• 29pXD-11 軟組織に有効なX線屈折原理を用いた3次元,3次元像形成理論と実験(29pXD X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 28a-L-4 微小歪観察のための薄くしたシリコンの平面波トポグラフィ
• 28p-H-8 うすいシリコン結晶の平面波放射光トポグラフィによる微小欠陥の検出
• レーザピーニング処理した材料の高エネルギー放射光による非破壊評価
• 227 レーザーピーニングによる窒化ケイ素セラミックスへの圧縮残留応力の導入(ピーニング材料の応力評価,残留応力と材料強度,オーガナイズドセッション3)
• 225 放射光によるレーザピーニング材最表面層の残留応力深さ分布測定(ピーニング材料の応力評価,残留応力と材料強度,オーガナイズドセッション3)
• 511 レーザーピーニング面内部残留応力分布の非破壊測定(コーティング・表面処理, 残留応力の測定と評価)
• 30pYD-1 β-ET_2X における超高圧誘起超伝導 I
• 28aYA-5 X線屈折コントラスト法によるチタン水素化物中の水素の拡散係数の決定(28aYA 格子欠陥・ナノ構造(水素),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• X線屈折コントラスト法によるTiおよびTiAl合金中の水素化物の可視化
• 25aYM-8 X線屈折コントラスト法によるチタン中の水素化物の観察II(格子欠陥・ナノ構造,領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
• 17aTG-4 高平行度X線を用いたチタン中の水素化物の直接観察
• 24aYL-2 β'-(BEDT-TTF)_2ICl_2の大型単結晶育成とその評価(ET-ICl_2, 超高圧力等,領域7(分子性固体・有機導体))
• レインボー・ガーネットの白色X線トポグラフィー
• 屈折型X線顕微鏡の病気診断への応用
• 29p-WG-8 物理教材のネットワーク化のサーバー構成
• 29p-WG-7 物理教材のネットワーク化
• 24aYF-8 ZnTeホモエピタキシャル半導体薄膜の放射光トポグラフィによる結晶評価(格子欠陥・ナノ構造(力学物性・転位),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 20pXA-7 伝導性チタン酸ストロンチウムの自発歪(誘電体(BaTiO_3系・SrTiO_3系),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 25pYR-5 酸素同位体置換したチタン酸ストロンチウムの自発歪(誘電体,領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
• シンクロトロン放射光によるX線回折画像計測技術の進歩
• 28aYR-9 SrTi(^O_^O_x)_3の低温ラウエトポグラフィー
• 22pYH-11 SPring-8における低温ラウエトポグラフィーの開発
• S0302-3-4 放射光μCTを用いた複数き裂の進展・干渉挙動の評価(実験力学における計測・解析法の新展開(3))
• 24aTH-4 Ba_K_BiO_3の自発歪み(超伝導,領域6,金属,超低温,超伝導・密度波)
• 323 レーザピーニングによる疲労き裂進展抑制とμCT技術によるき裂形状の可視化(疲労の検出・評価・抑止II,疲労における機構と評価,オーガナイズドセッション1)
• 30aXC-5 金属単結晶上の酸化物単結晶薄膜の背面ラウエパターンの観測の試み
• 28aRB-1 水晶(SiO_2)の不整合相転移点近傍での分域形成過程(28aRB 誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 21aTE-6 X線トポグラフによる水晶のINC相相転移近傍の変調構造及び分域構造の観察(誘電体,領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 19pXA-6 光学及びX線トポグラフによる水晶の相境界近傍の変調構造の観察(誘電体,領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 25pWY-7 La_Sr_CuO_4の構造相転移における自発歪み(25pWY 薄膜・酸化物系,領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 24aWX-2 放射光X線トポグラフィによるCZシリコン結晶ネック部の転位の三次元分布観察(24aWX 結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 20pYM-10 リラクサー結晶PZNの白色X線トポグラフィ(誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 29p-J-2 Enhanced核スピン系:Ho_R_xVO_4(R=Y.Tm)の磁性
• 23aYF-3 DEI法によるチタン中の水素化物の観察(格子欠陥・ナノ構造(水素),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 21pXQ-14 パルスレーザーを用いた擬一次元導体Nb_3X_4の熱起電力測定(超伝導・密度波,領域6,金属,超低温,超伝導・密度波)
• 28aTD-1 高温超伝導体LSCOの格子歪み(28aTD 高温超伝導(中性子,X線,μSR,NMR),領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
• 佐賀LSと軟X線イメージング
• 27a-PS-33 Ba_K_xCu_3O_4Cl_2の磁性 : 帯磁率測定II
• 25p-P-10 Sc金属のde Hass-Van Alfen効果II
• 28a-ZJ-7 Sc金属のde Hass-Van Alfen効果
• 27p-APS-51 Ba_K_xCu_3O_4Cl_2の磁性 : 帯磁率測定
• シンクロトロン放射光の縮小光学系による平面波マイクロビーム形成に関する基礎的研究
• 23aY-5 表面反射放射光トポグラフィによるMOCVD法で成長させたZnSe/GaAs薄膜の評価
• 27aYL-9 超高純度・低転位密度Al単結晶中の原子空孔源
• 24aB6 歪・焼鈍法で作製したアルミニウム単結晶の転位密度(バルク成長VII)
• 28a-ZA-13 歪・焼鈍法で作製した超高純度・低転位密度Al単結晶中の格子欠陥
• 4a-TA-8 FZシリコン中の微小歪の放射光平面波トポグラフィによる観察
• 白色放射光トポグラフィによるリゾチーム結晶のトポ像の解析(バイオクリスタルII)
• トポ・トモグラフィ技術を併用した放射光白色トポグラフィによる転位の3D構造決定
• 24pYS-12 放射光平面波X線を用いたgrown-in欠陥を含むシリコン結晶の回折強度曲線測定(X線・粒子線(X線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
• SPring-8におけるCZ-Si結晶中の転位の伝播挙動と三次元構造評価(半導体結晶成長III)
• Si単結晶インゴットのX線トポグラフィ : バルク結晶成長III
• 28aTA-1 HgをドープしたNb_3Te_4単結晶の作製と評価
• 22pYS-1 SPring-8白色X線トポグラフィックカメラによるNb_3Te_4単結晶の観察
• 319 放射光白色X線による骨内部のひずみ測定の検討(バイオエンジニアリングIII)
• 印象深い文献
• 格子面間隔とその方位の分布をイメージングするX線トポグラフィの提案
• 2p-M-3 コンピュータ散乱ラジオグラフィにおける画像処理の実際的効果
• 11p-T-2 マイクロコンピュータ制御X線散乱ラジオグラフィー
• 教育と研究は両立するか? : 基礎研究と大学, 大学院教育
• コンピュータ支援物理学実験「空気の比熱比」の開発 : 測定システムと教材
• Lattice Orientation Imaging of C_-Fullerence Single Crystal with Microbeam-Scanning-Type X-ray Scattering Topography Using Charged-Coupled Device Detector
• 展望 佐賀LSと軟X線イメージング (特集 放射光と高分子)
• X-TOP2002 と加藤範夫先生追悼記念講演(Authier 名誉教授)
• ゴム複合材料のエネルギー分散X線スペクトロ散乱トポグラフィによる組織観察
• X-TOP2000報告
• 30p-XJ-2 格子不整系半導体エピタキシャル膜のシンクロトロン放射光白色X線散乱スペクトロトポグラフ
• 31a-YC-11 動力学回折理論計算機シミュレーションによる格子不整系半導体エピタキシャル膜中のX線反射強度
• 臨床応用をめざす軟組織描画法の開発 : X線暗視野法の現状と将来見通し
• X線散乱ラジオグラフィ-による切欠近傍に生じた塑性ひずみ域分布の検出
• 4p-L-1 X線トポグラフ観察に用いる低温(液体窒素温度)試料ステージ
• 極微小角入射X線回折によるInAs/GaAs膜の深さ分解X線トポグラフィ
• サブミクロン分解能を有するスペクトロスコピックX線散乱トポグラフィ装置の開発
• 29a-YM-13 格子不整系半導体エピタキシャルInAs/GaAs膜のX線散乱トポグラフィの構造観察
• 柱状大結晶シリコン中の欠陥分布を観察するボルマン効果コンピュータトモグラフィ装置の試作研究
• 15a-DL-7 シンクロトロン放射光によるマイクロビーム走査SSDスペクトロスコピーX線散乱トポグラフィ
• 15a-DL-6 湾曲透過Si単結晶を用いた収束シンクロトロン放射光によるマイクロビーム走査X線散乱トポグラフィ
• 26a-S-3 シンクロトロン放射光によるX線散乱トポグラフィの空間解能の向上
• 26a-S-2 スペクトロスコピーX線散乱トポグラフィ (II)
• 25a-S-9 X線異常透過効果によるSi断層内の格子欠陥分布計測法の開発
• 28a-L-2 位置敏感検出器を用いたスペクトロスコピーX線散乱トポグラフィ
• 28p-H-7 X線散乱ラジオグラフィによる単結晶中の方位分布トポグラフィ
• 実用金属材料の巨視的相変態を画像計測するためのX線散乱ラジオグラフィ(SR)の開発(合金の相変態とその前駆現象,科研費研究会報告)
• 1a-M-7 多結晶散乱トポグラフィ(PST)の開発
• X線トポグラフィの三次元化と応用
• 放射光マイクロトモグラフィによる鋼中のき裂観察
• 2p-M-2 散乱ラジオグラフィによる円孔切欠周辺に生じた塑性域の検出
• アルミニウム単結晶延性損傷評価のための放射光白色X線による検討
• 実施テーマからみた工学部基礎課程物理実験 : 九州工業大学工学部物理実験室を中心として
• 胆石の組織識別X線トポグラフ
• 4p-X-9 放射光を用いたトポグラフィ
• X線散乱ラジオグラフィ
• X線散乱ラジオグラフィによる金属材料の観察
• マイクロプロセッサ-制御X線散乱ラジオグラフィ-による多結晶金属および生物試料の組織観察

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク