Lattice Orientation Imaging of C_<60>-Fullerence Single Crystal with Microbeam-Scanning-Type X-ray Scattering Topography Using Charged-Coupled Device Detector
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概要
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- Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physicsの論文
- 2005-12-30
著者
-
近浦 吉則
九工大
-
SUZUKI Yoshifumi
Graduate School of Engineering, Kyushu Institute of Technology
-
CHIKAURA Yoshinori
Graduate School of Engineering, Kyushu Institute of Technology
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