25a-S-9 X線異常透過効果によるSi断層内の格子欠陥分布計測法の開発
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1992-09-14
著者
-
近浦 吉則
九工大
-
近浦 吉則
九工大・工
-
鈴木 芳文
九工大・工
-
城井 英樹
九工大・工
-
鈴木 芳文
九州工業大学大学院工学研究科
-
城井 英樹
九州工業大学工学部
-
村田 俊一
九州工業大学工学部電気工学研究科
-
村田 俊一
九工大・工
関連論文
- 29pXD-11 軟組織に有効なX線屈折原理を用いた3次元,3次元像形成理論と実験(29pXD X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 28a-L-4 微小歪観察のための薄くしたシリコンの平面波トポグラフィ
- 28p-H-8 うすいシリコン結晶の平面波放射光トポグラフィによる微小欠陥の検出
- 屈折型X線顕微鏡の病気診断への応用
- 29p-WG-8 物理教材のネットワーク化のサーバー構成
- 29p-WG-7 物理教材のネットワーク化
- 20pXA-7 伝導性チタン酸ストロンチウムの自発歪(誘電体(BaTiO_3系・SrTiO_3系),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 25pYR-5 酸素同位体置換したチタン酸ストロンチウムの自発歪(誘電体,領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
- シンクロトロン放射光によるX線回折画像計測技術の進歩
- 28aYR-9 SrTi(^O_^O_x)_3の低温ラウエトポグラフィー
- 22pYH-11 SPring-8における低温ラウエトポグラフィーの開発
- 30aXC-5 金属単結晶上の酸化物単結晶薄膜の背面ラウエパターンの観測の試み
- 物理教育に関するシンポジウム第16回および研究発表会開催報告
- 20pYM-10 リラクサー結晶PZNの白色X線トポグラフィ(誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 佐賀LSと軟X線イメージング
- シンクロトロン放射光の縮小光学系による平面波マイクロビーム形成に関する基礎的研究
- 4a-TA-8 FZシリコン中の微小歪の放射光平面波トポグラフィによる観察
- トポ・トモグラフィ技術を併用した放射光白色トポグラフィによる転位の3D構造決定
- 24pYS-12 放射光平面波X線を用いたgrown-in欠陥を含むシリコン結晶の回折強度曲線測定(X線・粒子線(X線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
- SPring-8におけるCZ-Si結晶中の転位の伝播挙動と三次元構造評価(半導体結晶成長III)
- Si単結晶インゴットのX線トポグラフィ : バルク結晶成長III
- 28aTA-1 HgをドープしたNb_3Te_4単結晶の作製と評価
- 22pYS-1 SPring-8白色X線トポグラフィックカメラによるNb_3Te_4単結晶の観察
- 印象深い文献
- 格子面間隔とその方位の分布をイメージングするX線トポグラフィの提案
- 2p-M-3 コンピュータ散乱ラジオグラフィにおける画像処理の実際的効果
- 11p-T-2 マイクロコンピュータ制御X線散乱ラジオグラフィー
- 教育と研究は両立するか? : 基礎研究と大学, 大学院教育
- コンピュータ支援物理学実験「空気の比熱比」の開発 : 測定システムと教材
- Lattice Orientation Imaging of C_-Fullerence Single Crystal with Microbeam-Scanning-Type X-ray Scattering Topography Using Charged-Coupled Device Detector
- 展望 佐賀LSと軟X線イメージング (特集 放射光と高分子)
- X-TOP2002 と加藤範夫先生追悼記念講演(Authier 名誉教授)
- ゴム複合材料のエネルギー分散X線スペクトロ散乱トポグラフィによる組織観察
- X-TOP2000報告
- 30p-XJ-2 格子不整系半導体エピタキシャル膜のシンクロトロン放射光白色X線散乱スペクトロトポグラフ
- 31a-YC-11 動力学回折理論計算機シミュレーションによる格子不整系半導体エピタキシャル膜中のX線反射強度
- 6p-R-10 高分子-無機イオン錯体の電気伝導とESR
- 臨床応用をめざす軟組織描画法の開発 : X線暗視野法の現状と将来見通し
- X線散乱ラジオグラフィ-による切欠近傍に生じた塑性ひずみ域分布の検出
- 4p-L-1 X線トポグラフ観察に用いる低温(液体窒素温度)試料ステージ
- コンピュータ支援物理学実験「熱電対」の開発--測定システムと教材
- コンピュータ支援物理学実験「空気の比熱比」の開発--測定システムと教材
- 極微小角入射X線回折によるInAs/GaAs膜の深さ分解X線トポグラフィ
- サブミクロン分解能を有するスペクトロスコピックX線散乱トポグラフィ装置の開発
- 29a-YM-13 格子不整系半導体エピタキシャルInAs/GaAs膜のX線散乱トポグラフィの構造観察
- 柱状大結晶シリコン中の欠陥分布を観察するボルマン効果コンピュータトモグラフィ装置の試作研究
- 15a-DL-7 シンクロトロン放射光によるマイクロビーム走査SSDスペクトロスコピーX線散乱トポグラフィ
- 15a-DL-6 湾曲透過Si単結晶を用いた収束シンクロトロン放射光によるマイクロビーム走査X線散乱トポグラフィ
- 26a-S-3 シンクロトロン放射光によるX線散乱トポグラフィの空間解能の向上
- 26a-S-2 スペクトロスコピーX線散乱トポグラフィ (II)
- 25a-S-9 X線異常透過効果によるSi断層内の格子欠陥分布計測法の開発
- 28a-L-2 位置敏感検出器を用いたスペクトロスコピーX線散乱トポグラフィ
- 28p-H-7 X線散乱ラジオグラフィによる単結晶中の方位分布トポグラフィ
- 実用金属材料の巨視的相変態を画像計測するためのX線散乱ラジオグラフィ(SR)の開発(合金の相変態とその前駆現象,科研費研究会報告)
- 1a-M-7 多結晶散乱トポグラフィ(PST)の開発
- 高度平面波放射光トポグラフィによる薄いシリコン中の微小欠陥の検出
- 科学教育の進化 : 応用物理の未来を考える
- 2p-M-2 散乱ラジオグラフィによる円孔切欠周辺に生じた塑性域の検出
- 実施テーマからみた工学部基礎課程物理実験 : 九州工業大学工学部物理実験室を中心として
- 胆石の組織識別X線トポグラフ
- 4p-X-9 放射光を用いたトポグラフィ
- X線散乱ラジオグラフィ
- X線散乱ラジオグラフィによる金属材料の観察
- マイクロプロセッサ-制御X線散乱ラジオグラフィ-による多結晶金属および生物試料の組織観察
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し