近浦 吉則 | 九工大・工
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概要
関連著者
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近浦 吉則
九工大・工
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鈴木 芳文
九工大・工
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城井 英樹
九工大・工
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近浦 吉則
九工大
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鈴木 芳文
九州工業大学大学院工学研究科
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城井 英樹
九州工業大学工学部
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今井 正人
小松電子金属
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村田 俊一
九工大・工
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村田 俊一
九州工業大学工学部電気工学研究科
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石川 哲也
東大・工
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船引 夕樹
九工大・工
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石川 哲也
理研XFEL
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石川 哲也
東大工
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梶原 堅太郎
高輝度光科学研究センター
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石川 哲也
高エネルギー物理学研究所放射光施設
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梶原 堅太郎
Jasri Spring-8
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梶原 堅太郎
九工大・工
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梶原 堅太郎
高輝度光科学研究所
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Novikov D
DESY
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Materlik G
HASYLAB
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船引 夕樹
九州工業大学工学部物質工学研究科
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梶原 堅太郎
高輝度光科学研究センター 産業利用推進室
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今井 正人
小松電子金属 (株)
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今井 正人
小松電子金属・技研
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石川 哲也
高工研・放射光
著作論文
- 28a-L-4 微小歪観察のための薄くしたシリコンの平面波トポグラフィ
- 格子面間隔とその方位の分布をイメージングするX線トポグラフィの提案
- 極微小角入射X線回折によるInAs/GaAs膜の深さ分解X線トポグラフィ
- 29a-YM-13 格子不整系半導体エピタキシャルInAs/GaAs膜のX線散乱トポグラフィの構造観察
- 15a-DL-7 シンクロトロン放射光によるマイクロビーム走査SSDスペクトロスコピーX線散乱トポグラフィ
- 15a-DL-6 湾曲透過Si単結晶を用いた収束シンクロトロン放射光によるマイクロビーム走査X線散乱トポグラフィ
- 25a-S-9 X線異常透過効果によるSi断層内の格子欠陥分布計測法の開発
- 高度平面波放射光トポグラフィによる薄いシリコン中の微小欠陥の検出
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し