上田 和浩 | 富山大学 理学部
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概要
関連著者
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上田 和浩
日立・日立研
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上田 和浩
富山大学 理学部
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平野 辰巳
(株)日立製作所日立研究所
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上田 和浩
(株)日立製作所日立研究所
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今川 尊雄
(株)日立グローバルストレージテクノロジーズ
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宇佐美 勝久
日立協和エンジニアリング(株)
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今川 尊雄
(株)日立製作所ストレージ事業部
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今川 尊雄
日立・ストレージ事業部
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上田 和浩
(株)日立製作所基礎研究所
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星屋 裕之
日立製作所中央研究所
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成重 真治
(株)日立製作所ストレージ事業部
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重松 恵嗣
(株)日立製作所ストレージ事業部
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星屋 裕之
中央研究所
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成重 眞治
Data Storage & System Div. Hitachi Ltd.
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飯田 敏
富山大・理
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青山 隆
日立製作所日立研究所
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杉田 吉充
富山大・理
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飯田 敏
富山大学理学部物理学科
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宇佐美 勝久
(株)日立製作所日立研究所
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星野 勝美
日立製作所中央研究所
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青山 隆
日立・日立研
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上田 和浩
日立製作所日立研究所
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砂子沢 成人
株式会社日立ハイテクノロジーズ那珂事業所
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星野 勝美
日立中研
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木本 浩司
物質・材料研究機構 ナノ計測センター 先端電子顕微鏡グループ
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星野 勝美
(株)日立製作所中央研究所
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木本 浩司
名古屋大学大学院工学研究科応用物理学専攻
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経田 昌幸
富山大学 理学部
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今川 尊雄
ストレージシステム事業部
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重松 恵嗣
ストレージシステム事業部
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平野 辰巳
日立 日立研
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宇佐美 勝久
日立 日立研
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上田 和浩
日立 日立研
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成重 真治
ストレージシステム事業部
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宇佐美 勝久
(株)日立製作所 日立研究所
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上田 和浩
日立製作所
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阿部 孝夫
信越半導体(株)半導体研究所
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平井 康晴
(株)日立製作所 基礎研究所
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河田 洋
高エ研・放射光
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田中 弘之
日立製作所計測器グループ
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砂子沢 成人
日立製作所計測器グループ
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鍛示 和利
日立製作所日立研究所
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鍛示 和利
日立・日立研
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田谷 俊陸
日立・計測器グループ
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砂子沢 成人
日立・計測器グループ
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木本 浩司
日立製作所日立研究所
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HUNT J.
Gatan Inc.
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木本 浩司
日立・日立研
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矢野 史子
日立・半導体事業部
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三井 泰裕
日立・半導体事業部
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平井 康晴
九州シンクロトロン光研究センター
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鈴木 誉也
日立製作所日立研究所
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矢野 史子
(株)日立製作所 半導体グループ
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阿部 孝夫
信越半導体
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阿部 孝夫
信越半導体kk
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砂子沢 成人
(株)日立ハイテクノロジーズ
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河田 洋
KEK・PF
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星野 勝美
(株)日立製作所・中央研究所
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三井 泰裕
(株)日立ハイテクノロジーズ
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沖津 康平
高工研(放射光)
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平野 辰己
(株)日立製作所日立研究所
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宮内 昭浩
日立 日立研
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飯田 敏
富山大学・理学部
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平井 康晴
日立製作所基礎研究所
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飯田 敏
富山大学 理学部
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杉田 吉充
富山大学 理学部
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上田 和浩
富山大学・理学部
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経田 昌幸
富山大学・理学部
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杉田 吉充
富山大学・理学部
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笠置 延生
富山大・理
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上田 和浩
富山大・理
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沖津 康平
富山大・理
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今川 尊雄
日立ストレージ事業部
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重松 恵嗣
日立ストレージ事業部
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平野 辰巳
日立日立研
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上田 和浩
日立日立研
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成重 眞治
Data Storage & System Div., Hitachi Ltd.,
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星屋 裕之
日立 中研
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重松 恵嗣
(株)日立グローバルストレージテクノロジーズ
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ISAKOZAWA Shigeto
Instrument Division, Hitachi Ltd
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AOYAMA Takashi
Hitachi Research Laboratory, Hitachi Ltd.
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宮内 昭浩
日立製作所日立研究所
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井上 洋典
日立製作所日立研究所
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成重 眞治
ストレージシステム事業部
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星屋 裕之
中研
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TAYA Shunroku
Instrument Division, Hitachi Ltd.
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Taya Shunroku
Instruments Group Hitachi Ltd
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宮内 昭浩
日立製作所 日立研究所 材料研究所 電子材料研究部 ナノプリントストラテジックソリューションユニット
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KAJI Kazutoshi
Hitachi High-Technologies Corp.
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UEDA Kazuhiro
Hitachi Research Laboratory, Hitachi Ltd
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TANAKA Hiroyuki
Instruments Group, Hitachi Ltd
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Kaji Kazutoshi
Hitachi High‐technol. Corp. Ibaraki Jpn
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Aoyama Takashi
Hitachi Research Laboratory Hitachi Ltd
-
Tanaka Hiroyuki
Instruments Group Hitachi Ltd
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Isakozawa Shigeto
Hitachi High‐technol. Corp. Ibaraki Jpn
-
Isakozawa Shigeto
Instrument Division Hitachi Ltd
著作論文
- 走査透過像観察装置(HD-2000)による軽元素分布の観察
- 走査透過型電顕(HD-2000)によるスペクトルイメージング
- SiO_xN_y/Si界面の位置分解EELS計測
- X線異常分散を利用したCu/Ni_Fe_積層薄膜の回折線分離法の検討
- 斜入射X線散漫散乱法を用いた凹凸評価における蛍光X線の影響
- 積層フェリ固定層にFe酸化層を挿入したボトムスピンバルブの磁気抵抗効果と自由層の磁気特性(薄膜)
- 31p-ZB-12 結晶傾斜法によるシリコン結晶の結晶完全性と統計的動力学理論による解析
- 27p-L-11 結晶傾斜法によって測定した微小欠陥を含むCzシリコン結晶におけるペンデル振動
- 4a-Z-3 X線高次反射トラバーストボグラフ法によるFZ-Si結晶中の微小欠陥の観察
- Fe酸化層を挿入したスピンバルブにおける自由層の磁気特性
- Co-K_βX線反射率法によるスピンバルブ膜層構造解析の基礎検討
- Co-Kβ X線反射率法によるSV膜層構造解析法に基礎検討
- シリコン低温エピタキシャル層の評価
- 斜入射X線散漫散乱法による基板表面形状評価
- Cu-K_β-X線反射率法による薄膜積層体の層構造解析 (多層膜・人工格子・グラニューラー)
- CuKβ-X線反射率法による薄膜積層体の層構造解析
- 最小二乗法によるX線反射率解析値の信頼性評価法の検討
- 異常分散利用2波長差分X線反射率のフーリエ変換による積層構造解析法の検討
- 軽元素と中重元素構成の複合材料を同時に可視化--高エネルギー屈折コントラストX線イメージング法による材料観察
- Development of a real-time jump-ratio imaging system equipped with a STEM