走査透過型電顕(HD-2000)によるスペクトルイメージング
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 1999-05-01
著者
-
青山 隆
日立製作所日立研究所
-
田中 弘之
日立製作所計測器グループ
-
砂子沢 成人
日立製作所計測器グループ
-
上田 和浩
日立・日立研
-
木本 浩司
日立製作所日立研究所
-
HUNT J.
Gatan Inc.
-
上田 和浩
日立製作所日立研究所
-
砂子沢 成人
株式会社日立ハイテクノロジーズ那珂事業所
-
木本 浩司
物質・材料研究機構 ナノ計測センター 先端電子顕微鏡グループ
-
木本 浩司
名古屋大学大学院工学研究科応用物理学専攻
-
上田 和浩
富山大学 理学部
-
上田 和浩
日立製作所
関連論文
- 19aPS-65 透過型電子顕微鏡及び放射光X線回折法によるC型反強磁性マンガン酸化物の結晶構造解析(19aPS 領域8ポスターセッション(低温),領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 半導体素子用絶縁膜の元素および化学結合状態
- STEMを用いた軽元素分布像観察法の検討
- 実時間元素分布写像システムの開発
- EF-TEMによる無機材料の元素および化学結合状態の分析
- 走査透過像観察装置(HD-2000)による軽元素分布の観察
- 走査透過型電顕(HD-2000)によるスペクトルイメージング
- SiO_xN_y/Si界面の位置分解EELS計測
- 25pWP-9 層状ニッケル酸化物RE_AE_NiO_4の電荷秩序構造特性(25pWP スピネル酸化物他,領域8(強相関係:高温超伝導,強相関f電子系など))
- TEM-EELSによる電子状態分析
- Si基板上に形成したAl_2O_3薄膜のELNES解析
- 第8回アジア-太平洋電子顕微鏡学会議 : 参加報告(装置・材料系)
- 29aPS-14 (Re, Ca)CuSr_2O_ の構造と磁性
- 29aPS-14 (Re, Ca) CuSr_2O_ の構造と磁性
- 26aRK-4 La_Sr_MnO_3における電荷整列相の特徴(マンガン酸化物,領域8,強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など)
- 28pTL-8 La_Ca_MnO_3における異方磁気抵抗と磁区構造の関係(28pTL Mn酸化物,領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 27pTD-9 六方晶Ba_Sr_Zn_2Fe_O_における構造変調の電子回折による観測(27pTD マルチフェロイック2,領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 極低温電顕法による電荷・軌道整列状態の層状ペロブスカイト型マンガン酸化物の超構造解析
- 18aWG-5 電子顕微鏡によるSm_Sr_MnO_3のスピン整列状態の直接観察(18aWG Mn系1,領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 層状マンガン酸化物における磁気ナノドメインの観察
- 23aZQ-10 透過型電子顕微鏡法によるC型反強磁性マンガン酸化物の結晶構造解析及び組織観察(23aZQ Mn系1,領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 27pRA-11 マンガン酸化物214の整合-不整合電荷秩序相転移(27pRA Mn系2(電荷軌道秩序),領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 27aPS-75 Ba_2FeMoO_6における磁区と反位相ドメインの関係(27aPS 領域8ポスターセッション(低温),領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 電荷軌道整列状態のマンガン酸化物が示す横波変調構造
- ローレンツ顕微鏡によるマンガン酸化物の磁区構造観察
- 25pPSA-13 Bi-2223におけるジョセフソン磁束フロー抵抗振動の異方性依存性(低温,領域8ポスターセッション,領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- ローレンツ電子顕微鏡法による強相関係磁性材料の磁区構造観察
- 12aRB-9 ローレンツ電子顕微鏡による La_Sr_(Mn_Ru_y)_2O_7 の磁区構造観察(Mn 系 1 : 二重ペロブスカイト・マルチフェロイクス, 領域 8)
- 28aPS-85 ローレンツ電子顕微鏡によるSr_Ca_xRu_2O_7の磁区構造観察(領域8 ポスターセッション)(領域8)
- 充填スクッテルダイト構造PrRu_4P_の低温相の観察
- 20pTN-4 La_Sr_Mn_2O_7 のローレンツ電子顕微鏡観察
- 30pWF-12 電子回折法による RuSr_2Gd_Ce_Cu_2O_ の構造の研究
- STEM-EELSによる高空間分解能の元素マッピング
- 走査透過電子顕微鏡の球面収差補正とその応用
- 200kVのSE像によるバルク試料の断面観察
- HD-2000形超薄膜評価装置の開発
- 電子顕微鏡のTV撮像技術(2) : アバランシェ増倍型撮像管を用いる方式の検討
- 可視化装置を用いた固体窒素接触熱コンダクタンス計測
- 600MHz NMR用スプリット型超電導磁石の開発
- 高加速STEM/SEM情報の有効活用
- HAADF-STEM像コントラスト解釈のための基礎検討
- HD-2000のプローブ径と観察および分析性能
- 3次元電子顕微鏡の開発
- ランタノイド(III)-β-ジケトンキレートとクロム(III)及びコバルト(III)-アセチルアセトンキレート間の多核錯体生成反応
- ローレンツTEM法による強磁性ナノワイヤの磁化分布解析
- EELS基礎--透過電子顕微鏡における電子エネルギー損失分光法 (チュートリアルセッション)
- STEM-EELSによる原子列の可視化 (最近の分析手法の進展)
- TEM-EELS入門--操作に役立つハードウェア知識 (チュートリアル)
- TEM-EELSの先端研究
- スペクトロメトリー(分光)の立場から (パネルディスカッション 21世紀に望む"イメージング(結像)vsスペクトロメトリー(分光)")
- EELSマッピングの利点と欠点 (パネルディスカッション--マッピングどっちがエライ?XEDSマッピングvs EELSマッピング)
- 特集「電子線で今何ができるか」にあたって
- CoCr系垂直記録媒体の組成分離とノイズ特性
- CoCr系垂直記録媒体の組成分離の膜厚依存性
- CoCrTa薄膜媒体の微細構造と組成偏析
- 電荷/軌道整列状態を示すPr_Ca_MnO_3の低温電子顕微鏡観察
- X線異常分散を利用したCu/Ni_Fe_積層薄膜の回折線分離法の検討
- 斜入射X線散漫散乱法を用いた凹凸評価における蛍光X線の影響
- 積層フェリ固定層にFe酸化層を挿入したボトムスピンバルブの磁気抵抗効果と自由層の磁気特性(薄膜)
- 高分解能電顕法及びEELSによる超伝導相及び非超伝導相(Cu,Cr)-1212の構造解析
- 走査透過電子顕微鏡と電子エネルギー損失分光法による原子コラムの可視化
- 31p-ZB-12 結晶傾斜法によるシリコン結晶の結晶完全性と統計的動力学理論による解析
- 27p-L-11 結晶傾斜法によって測定した微小欠陥を含むCzシリコン結晶におけるペンデル振動
- 4a-Z-3 X線高次反射トラバーストボグラフ法によるFZ-Si結晶中の微小欠陥の観察
- Fe酸化層を挿入したスピンバルブにおける自由層の磁気特性
- Co-K_βX線反射率法によるスピンバルブ膜層構造解析の基礎検討
- Co-Kβ X線反射率法によるSV膜層構造解析法に基礎検討
- エネルギ-フィルタを装備した電子顕微鏡による薄膜磁性材料の元素分布像観察 (電子・イオン技術を用いた表面観察・分析の新展開)
- TEM-EELSによるセラミックスの微細構造の解析
- よくわかるエネルギーフィルターTEM
- TEM-EELS による微小領域の分析
- コヒアレントナノビ-ム電子回折とその多層膜への応用
- 3p-X-2 半導体超格子のコヒアレント収束電子回折
- 30p-YM-9 PbTe/MgO二重膜のコヒーレント収束電子回折図形シュミレイション
- 13a-DL-5 PbS/PbTe2重膜のコヒアレントーナノ電子回折
- 6a-W-3 Au-MgO単結晶複合膜の構造と電気伝導
- 6a-B5-5 Au/MgO複合膜のoff-axial高分解能電子顕微鏡観察
- エネルギーフィルターTEMによる元素分布像観察
- STEMによる元素分布観察
- 最近の装置開発と将来像
- EFTEM法の特徴と最近の解析法 (特集 元素マッピング、これまでとこれから)
- 7.金属MgO複合膜の構造と電気伝導(名古屋大学大学院工学研究科応用物理学専攻,修士論文題目・アブストラクト(1988年度))
- シリコン低温エピタキシャル層の評価
- 赤外分光分析法によるSi気相成長炉内ガス濃度のin-situ計測
- エネルギーフィルタTEMによるCoCrTa薄膜媒体の組成偏析観察
- 斜入射X線散漫散乱法による基板表面形状評価
- NiFe/Ta界面反応層の評価
- Cu-K_β-X線反射率法による薄膜積層体の層構造解析 (多層膜・人工格子・グラニューラー)
- CuKβ-X線反射率法による薄膜積層体の層構造解析
- CoCrTa 薄膜媒体の微細構造と組成偏析
- 最小二乗法によるX線反射率解析値の信頼性評価法の検討
- 異常分散利用2波長差分X線反射率のフーリエ変換による積層構造解析法の検討
- 紫外光パルスレ-ザ照射多結晶Si膜の結晶構造評価
- 軽元素と中重元素構成の複合材料を同時に可視化--高エネルギー屈折コントラストX線イメージング法による材料観察
- 収差補正STEMの特長 (電子顕微鏡・装置開発の将来を探る)
- STEMを用いた元素分布観察 (ナノテクノロジーにおけるAEMの役割)
- ナノメートル対応の分析評価技術 (特集1 i-engineering:日立製作所が創造する技術の総合マーケット)
- 透過電子顕微鏡(TEM)
- Development of a real-time jump-ratio imaging system equipped with a STEM
- 2-3-2 細孔中に分布するクラスレートハイドレートの非破壊観察手法の開発(2-3 ガスハイドレート,Session 2 天然ガス・メタンハイドレート等)