CoCr系垂直記録媒体の組成分離の膜厚依存性
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概要
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- 1996-09-01
著者
-
木本 浩司
日立 日立研
-
二本 正昭
株式会社日立製作所中央研究所
-
木本 浩司
物質・材料研究機構 ナノ計測センター 先端電子顕微鏡グループ
-
杉田 愃
中研
-
平山 義幸
中研
-
二本 正昭
中研
-
木本 浩司
名古屋大学大学院工学研究科応用物理学専攻
-
平山 義幸
日立
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