ローレンツ顕微鏡法と電子エネルギー損失分光法による強相関電子系材料の微細構造の観察
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概要
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- 2011-12-01
著者
-
長井 拓郎
物質・材料研究機構
-
木本 浩司
物質・材料研究機構
-
木本 浩司
(株)日立製作所日立研究所研究員
-
木本 浩司
日立 日立研
-
木本 浩司
物質・材料研究機構 ナノ計測センター 先端電子顕微鏡グループ
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