STEMによる元素分布観察
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 一般社団法人 表面技術協会の論文
- 2003-01-01
著者
関連論文
- STEMを用いた軽元素分布像観察法の検討
- 実時間元素分布写像システムの開発
- 走査透過像観察装置(HD-2000)による軽元素分布の観察
- 走査透過型電顕(HD-2000)によるスペクトルイメージング
- 走査透過電子顕微鏡の球面収差補正とその応用
- 200kVのSE像によるバルク試料の断面観察
- HD-2000形超薄膜評価装置の開発
- 電子顕微鏡のTV撮像技術(2) : アバランシェ増倍型撮像管を用いる方式の検討
- 高加速STEM/SEM情報の有効活用
- HAADF-STEM像コントラスト解釈のための基礎検討
- HD-2000のプローブ径と観察および分析性能
- 3次元電子顕微鏡の開発
- 走査透過電子顕微鏡による微細構造の3次元観察と元素/化学結合状態マッピング先端技術(磁性に関連したセンシング技術の広がりとその最前線)
- 走査透過電子顕微鏡による微細構造の3次元観察と元素/化学結合状態マッピング先端技術
- STEMによる元素分布観察
- 最近の装置開発と将来像
- 収差補正STEMの特長 (電子顕微鏡・装置開発の将来を探る)
- STEMを用いた元素分布観察 (ナノテクノロジーにおけるAEMの役割)
- ナノメートル対応の分析評価技術 (特集1 i-engineering:日立製作所が創造する技術の総合マーケット)
- 透過電子顕微鏡(TEM)