3a-NR-1 非晶質合金膜の結晶化によるGeSe_2準安定相
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1981-09-14
著者
関連論文
- 1p-M-4 TEMとX線トポグラフィーによるLEC GaAs結晶中のgrown-in転位の観察
- 31p-F-8 Al-Cu-Cr系Decagonal準結晶の近似結晶
- 27a-ZP-7 Al-Cu-Cr系における安定なDe相 II
- 28p-ZE-12 Al-Cu-Cr系における安定なDe相
- 大きなテトラポッド型ZnO結晶の極性 : モルフォロジーI
- 25a-B-6 単結晶Al膜上でのアモルファスGe膜の結晶化
- 25a-B-5 "アモルファス"Ge-Ag合金薄膜の構造と結晶化
- 大きなテトラポッド型ZnO結晶の成長 (2) : モルフォロジーI
- 真空蒸着により作製した非晶質Ge-X (X=Sb, Sn)合金薄膜の結晶化
- 11a-N-2 Ag_2Seの構造多形とホイスカーの成長
- Ag_2Se低温相における化学量論比からのずれと結晶構造 : 薄膜
- 29p-L-7 β-Ag_2Seにおける化学量論比からのずれと結晶構造
- 2p-E-7 アモルファスGe・Sの結晶化と相分離
- 30a-F-1 α-Ag_2Seホイスカの成長 (II)
- α-Ag_2Seホイスカの成長
- 4a-W-8 X線用モノクロメーターとしてのタングステン単結晶の評価
- アモルファスGe合金膜の結晶化 : 結晶化過程
- 28a-D-1 結晶化からみたアモルファスGe-TeのLocal Order
- 2p GN-10 Ag_2X (X=S, Se) whiskerの成長機構
- 1a-BA-5 Ag_2S whisker の成長と変態
- 30a-ZB-5 X線用モノクロメーターとしてのタングステン単結晶の評価 II
- 4a-YG-10 As-grown CZ-Si結晶中の微小欠陥のX線トポグラフィ観察
- 15a-DL-5 高エネルギーX線セクショントポグラフィーによるAs-Grown CZ-シリコン結晶中の微小欠陥の定量的評価
- 放射光トポグラフィーによるシリコン結晶中の微小欠陥の観察 - 高エネルギーX線・高次反射の利用 -
- 31p-ZB-12 結晶傾斜法によるシリコン結晶の結晶完全性と統計的動力学理論による解析
- 高次反射を用いたX線トポグラフィによる結晶評価
- 27p-L-11 結晶傾斜法によって測定した微小欠陥を含むCzシリコン結晶におけるペンデル振動
- X線トポグラフィによるシリコン結晶の評価 : 招待講演II
- 3p-E-5 シンクロトロン放射光を用いた高次反射トポグラフ法によるSi中微小欠陥の研究
- 4a-Z-3 X線高次反射トラバーストボグラフ法によるFZ-Si結晶中の微小欠陥の観察
- FZシリコン結晶中のストリエーション : 評価
- 2p-F-7 シリコン中の金拡散と積層欠陥
- 5a-P-1 イメージングプレートによるX線高次反射セクショントポグラフ法
- 4a-B5-3 高次反射によるセクショントポグラフ法とその応用
- 26p-A-10 結晶傾斜法によるシリコン結晶中の微小欠陥の研究
- 28p-H-6 X線セクショントポグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察III
- 1a-N-11 X線セクションポトグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察
- 1a-UB-7 X線二結晶法によるBaTiO_3表面層の研究
- 1a-KN-1 X線二結晶法によるBaTiO_3表面層
- 2p-NJ-14 シリコン中の金の拡散における微小欠陥の効果
- 5a-NR-10 アモルファスGe-Sの結晶化
- 5p-NR-8 α-Ag_2Seホイスカの成長
- アモルファスGe-Se薄膜の結晶化
- 3a-NR-1 非晶質合金膜の結晶化によるGeSe_2準安定相
- 28p-EB-7 X線セクショントポグラフィによるシリコン結晶中の酸素析出現象の観察IV(X線・粒子線)