26pXC-4 X線回折によるSi(111)-6×1(3×1)-Ag表面の3次元的な原子配列の研究(表面・界面構造(シリコン表面),領域9(表面・界面, 結晶成長))

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 社団法人日本物理学会の論文
• 2005-03-04

著者

• 張 小威

  KEK-PF

• 杉山 弘

  高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所

• 杉山 弘

  Kek Pf

• 高橋 敏男

  東京大学物性研究所

• 星野 崇

  東大物性研

• 高橋 敏男

  東大物性研

• 中谷 信一郎

  東大物性研

• 河田 洋

  KEK-PF

• 張 小威

  高エネ研物構研

• 吉田 隆司

  東大物性研

• 河田 洋

  Kek物構研

• 秋本 晃一

  名大院工

• 秋本 晃一

  名工大

• 田尻 寛男

  JASRI

• 坂田 修身

  JASRI

• 隅谷 和嗣

  東大物性研

• 増沢 航介

  東大物性研

• 秋本 晃一

  名大工

• 杉山 弘

  KEK-PF

• 田尻 寛男

  高輝度光科学研究センター

• 坂田 修身

  Jst-crest:高輝度光科学研

• 坂田 修身

  高輝度光科学研究センター

• 坂田 修身

  Spring-8 Jasri

• 坂田 修身

  財団法人 高輝度光科学研究センター

• 坂田 修身

  財団法人 高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門

• 坂田 修身

  高輝度光科学研究センター放射光研究所利用促進部門

関連論文

• 22pGQ-2 Atomic structure of the Si(553)-Au surface
• 15a-DL-1 放射光による核共鳴散乱のフイルター系の開発I
• 特集にあたって-放射光とX線結晶学, この15年
• X線屈折イメージングによる乳がんの臨床診断と病理学診断の可能性を探る
• 29pXD-11 軟組織に有効なX線屈折原理を用いた3次元,3次元像形成理論と実験(29pXD X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 22pPSA-8 軟X線吸収・発光分光法によるSiON/SiC(0001)のバンドオフセット構造の研究(22pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 26p-Q-6 ラウエケース、吸収のある場合のX線熱散浸散乱に及ぼす動力学的回折効果 II
• ビームライン:ダイアモンド光位置モニタ
• 28pRE-10 X線CTR散乱を利用した超薄膜界面原子の3次元再構成法(28pRE 領域10,領域5合同 X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 24pPSA-23 表面X線回折法を用いたSi(111)-5×2-Au表面の構造解析(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 21pXJ-6 X線回折によるSi(111)表面上のFeシリサイド薄膜構造解析(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 20aPS-32 表面X線回折法を用いたSi(111)-Au表面構造の研究(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 25pTD-5 軟X線吸収及び発光分光法によるSiON/SiC(0001)超薄膜の元素選択的電子状態の研究(表面界面電子物性,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 屈折型X線顕微鏡の病気診断への応用
• 30p-XJ-3 高輝度放射光用ダイアモンドモノクロメータにおける結晶のマウント法
• ビームラインにおける衝撃波の減衰に及ぼすバッフル板形状の影響〔流体工学, 流体機械〕
• 13aTJ-10 動力学的回折効果を利用した X 線パラメトリック散乱の観測(X 線・粒子線 : X 線, 領域 10)
• 13aTJ-9 SiO_2/Si 界面下に誘起されたメゾスコピックスケール歪みの解明 : 位相敏感 X 線回折法による(X 線・粒子線 : X 線, 領域 10)
• 14pXG-10 SiO_2/Si 界面下に誘起された歪み場中の静的構造揺らぎ(表面界面構造 : 半導体, 領域 9)
• SiO_2/Si界面下に誘起された格子歪み : 位相敏感X線回折法による(ゲート絶縁膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
• 位相敏感X線回折法によるSiO_2/Si界面以下の微小歪みの測定(極薄ゲート絶縁膜・シリコン界面の評価技術・解析技術)
• 29p-F-4 レーザー光によって誘導されるX線パラメトリック散乱の観察 III
• 26pXC-4 X線回折によるSi(111)-6×1(3×1)-Ag表面の3次元的な原子配列の研究(表面・界面構造(シリコン表面),領域9(表面・界面, 結晶成長))
• 20aPS-27 X 線 CTR 散乱低温試料マニピュレータの開発と Si(111)-6x1-Ag 表面構造の研究
• 21pHT-6 CTR散乱ホログラフィー(21pHT 領域10,領域9,領域1合同シンポジウム:原子分解能をもつX線・電子線ホログラフィー,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 29a-YM-7 Si/Ge/Si界面からのX線散漫散乱
• 25p-S-6 X線回折法によるGe/Si(001)界面構造の研究
• 新マンモグラフィとX線病理学への挑戦
• 24aWG-4 屈折コントラストを用いるトモシンセシスの開発(X線・粒子線(X線光学・イメージング),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 27aXD-7 微小角入射条件におけるX線90度ブラッグ反射の研究(27aXD X線,粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• X線暗視野法の整形外科分野への応用 : 関節軟骨のレントゲン像
• X線暗視野法(DFI)の開発と臨床応用への道
• 放射光を用いた高分解能格子面間隔コンパレータ
• 19aYM-6 結晶核モノクロメーターによる超単色シングルラインX線の生成(X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 26pPSB-31 Structures of Pb on high-index Si surfaces
• 29pPSB-58 Si(553)-Auの表面構造の研究(29pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 22aXJ-10 酸化によるSiC(0001)-3×3と√×√-R30°表面構造の変化(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 4p-X-4 偏光を用いた核共鳴散乱フィルター系
• 25a-S-2 Fe等の薄膜ミラーを用いたメスバウアー光用モノクロメーター その1
• 25aYH-6 電子線照射によるSn/Ge(111)-3×3表面構造の変化(ダイナミクス,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 27aTE-3 X線回折によるMnSi/Si(111)界面構造の研究(27aTE 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 13aTJ-8 X 線回折を利用した Si/Ge/Si(001) 結晶における Ge island の歪みについての研究(X 線・粒子線 : X 線, 領域 10)
• 超精密非球面形状計測装置の開発 : ゴニオメータの角度位置決め精度の検証
• ビームライン:モノクロメーター
• 30aPS-35 表面X線回折法による埋もれたSi(111)-5×2-Au構造の研究(30aPS 領域9ポスターセッション(表面,界面,結晶成長),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 21aPS-36 表面X線回折法によるSi(111)-Auの埋もれた界面構造の研究(領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 31p-A-8 核共鳴散乱による元素を特定したフォノンスペクトルII
• 4p-X-2 放射光による核共鳴非弾性散乱
• 15a-DL-4 ^Snによる核共鳴前方散乱の観測
• 15a-DL-2 放射光の核共鳴散乱の動的過程
• 23aWS-1 Low temperature superstructure formation in gold atomic chains on high-index Si surfaces
• 表面構造はどこまで分かったのか?
• 23aY-5 表面反射放射光トポグラフィによるMOCVD法で成長させたZnSe/GaAs薄膜の評価
• 21pHT-6 CTR散乱ホログラフィー(21pHT 領域10,領域9,領域1合同シンポジウム:原子分解能をもつX線・電子線ホログラフィー,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
• 23pWK-5 多波長同時分散光学系を用いたトランケーションロッドの測定III(23pWK X線・粒子線(X線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 28aYK-9 多波長同時分散光学系を用いたトランケーションロッドの測定II(X線・粒子線(X線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 28pRE-9 多波長同時分散X線光学系を用いた結晶トランケーションロッドの測定(28pRE 領域10,領域5合同 X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 26aWG-13 X線CTR散乱法によるPr_Ba_Cu_3O_/SrTiO_3界面構造解析(26aWG 高温超伝導2(理論・磁気共鳴・中性子),領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
• 27aXE-3 表面X線回折法によるAg/Si(111)界面の√構造とIETモデル
• 22pT-5 表面X線回折法によるAg/Si界面の構造
• 24aPS-66 表面X線回折法によるPb/Si(111)表面の再構成構造とその相転移(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 24aPS-65 Structures formed by Pb deposition onto high-index Si surfaces
• 29pPSB-60 Sn/Ge(111)及びSn/Si(111)低温相のLEEDによる検証(29pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 26p-YP-8 放射光の二次コヒーレンスの測定-2
• 19pPSB-33 微小角入射X線回折法によるSi(111)-√×√-Ag表面の低温相の構造評価II
• 17pWD-8 表面X線回折法によるSi(111)-√×√-Ag上のAg薄膜の結晶配向性
• 27aXE-4 微小角入射X線回折法によるSi(111)√×√-Ag表面の低温相の構造評価
• 24pPSA-13 表面X線回折法によるSi(111)-√×√-(Ag+Au)表面の構造解析
• ラウエ写真を撮ってみよう
• 3. 微少量・高精度・極限に迫る 表面構造をX線回折で調べる
• 表面を探る : 1. ビーム・表面相互作用: 放射光: 新しい展開 ( 表面)
• B. K. Tanner and D. K. Bowen編: Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods; Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Durham, 1979, Plenum Press, New York and London, 1980, xxvi+589ページ, 26×17.5cm, 21,840円(NATO Advanced Study Instit
• 新しい医用画像方式の開発 : X線暗視野像でどこまで見えるか
• X線暗視野像の原理と応用 : 透過型角度分析板を中心に
• 29pYG-4 X 線暗視野イメージングの開発と CT 像
• 最近の研究から X線暗視野像の原理と応用--透過型角度分析板を中心に
• X線三色カメラ'Trinity'とX線暗視野カメラ'Owl'
• 22pYH-9 放射光を利用した新たな格子間隔の精密測定法
• SPring-8医学利用挿入光源についての提案
• 27p-K-13 放射光を用いた10^級結晶格子パラメーター精密測定システムの開発
• PIN フォトダイオードによるX線強度の測定
• 4p-X-3 放射光による高圧下メスバウアー分光 (II)
• 表面X線回折の最近の動向と位相問題
• X線回折によるSi(111)-√×√-Ag表面構造解析と相転移研究
• 29p-E-11 α-^Fe_2O_3 結晶の育成・評価と核ブラッグ散乱反射率
• 5p-TA-2 SRX線のα-^Fe_2O_3結晶における核共鳴ブラッグ散乱
• 29p-E-13 二結晶法を用いたα-^Fe_2O_3からの核共鳴ブラッグ散乱
• 31p-ZB-5 シンクロトロン放射光によるフーリエ変換メスバウアー分光
• 28p-ZB-5 SR光による超高圧下メスバウアー分光
• 利用実験:放射光によるGaAsの内殻電子励起効果
• 放射光単色X線を用いた医学・生物学応用のためのイメージング法の開発
• 1p-D-4 X線アンジュレーター・ビームラインMR-BW-TLおよびモノクロメーター
• 臨床応用をめざす軟組織描画法の開発 : X線暗視野法の現状と将来見通し
• 25pTN-2 中性子微分位相コントラストイメージング法の開発(25pTN X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 25pTG-11 Pb/Si(111)表面の1×1↔√7×√3相転移(25pTG 表面界面構造(半導体・無機化合物),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 28pTH-1 Si(111)上のBi(001)超薄膜の界面構造解析(28pTH 表面界面構造(金属),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 27pPSA-38 ペンタセン超薄膜のX線CTR散乱法による構造解析(27pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 23aJA-8 多波長同時分散型CTR散乱法の時分割測定への応用(23aJA X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 23aJA-7 ラウエケースのX線CTR散乱(23aJA X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27aWG-3 低波数フォノンが励起された媒質中で生じるX線エコー現象(27aWG X線・粒子線,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野))

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク