荒川 悦雄 | 東京学芸大学
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概要
関連著者
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松下 正
高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所
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荒川 悦雄
東京学芸大
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荒川 悦雄
東京学芸大学
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松下 正
高エ研
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白澤 徹郎
東京大学物性研究所
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高橋 敏男
東京大学物性研究所
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白澤 徹郎
東大物性研
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高橋 敏男
東大物性研
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松下 正
Kek-pf
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高橋 敏男
東大 物性研
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荒川 悦雄
東京学芸大学教育学部自然科学系基礎自然科学講座物理科学分野
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平野 馨一
KEK-PF
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VOEGELI Wolfgang
東大物性研
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Voegeli W.
東大物性研
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木村 滋
JASRI
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梶原 堅太郎
JASRI
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八木 直人
JASRI, SPring-8
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豊川 秀訓
SPring-8 JASRI
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島田 敏宏
東大理
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桜井 健次
独立行政法人物質・材料研究機構
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豊川 秀訓
JASRI
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平野 馨一
高エ研PF
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豊川 秀訓
高輝度光科学研究セ
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松下 正
高エ研放射光
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野村 昌治
高エ研放射光
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岩澤 康裕
電気通信大学電気通信学部
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稲田 康宏
高エネルギー加速器研究機構 放射光科学研究施設
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八木 直人
高輝度光科学研究センター
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田尻 寛男
JASRI
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古川 行人
神戸製鋼所
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八木 直人
財団法人高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門
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八木 直人
Jasri
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八木 直人
高輝度光科学研究センター放射光研究所利用促進部門ii
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石井 真史
物質・材料研究機構
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桜井 健次
物質・材料研究機構
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田尻 寛男
高輝度光科学研究センター
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小間 篤
東大理
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梶原 堅太郎
Jasri Spring-8
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竹下 邦和
理研
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荒川 悦雄
総研大
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竹下 邦和
KEK PF
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松下 正
KEK PF
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八木 直人
高輝度光研
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石井 真史
独立行政法人 物質・材料研究機構
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平野 馨一
高エ研 PF
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桜井 健次
独立行政法人 物質・材料研究機構
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桜井 健次
物質・材料研究機構 材料研
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桜井 健次
(独)物質・材料研究機構材料研究所
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桜井 健次
(独)物質・材料研究機構 放射光解析グループ
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丹羽 尉博
高エ研
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稲田 康宏
高エ研
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石井 真史
物材機構
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桜井 健次
物材機構
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八木 直人
輝度光学研究セ
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野村 昌治
高エネルギー加速器研究機構 放射光科学研究施設
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野村 昌治
高エ研
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Inada Yasuhiro
Laboratory Of Analytical Chemistry Faculty Of Science Nagoya University
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稲田 康宏
名古屋大学大学院理学研究科・物質科学国際研究センター
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石井 真史
Spring-8高輝度光科学研究センター
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石井 真史
高輝度光科学研究センター:理化学研究所播磨研究所
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石井 真史
Spring-8 Jasri
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石井 真史
(財)高輝度光化学研究センター放射光研究所
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加藤 和男
JASRI, SPring-8
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八木 直人
Jasri Spring-8
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桜井 健次
(独)物質・材料研究機構 量子ビームセンター
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木村 滋
Jasri Spring-8
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加藤 和男
Jasri Spring-8
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岩澤 康裕
社団法人日本化学会
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石井 真史
(独)物質・材料研究機構
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松下 正
高エネルギー加速器研究機構
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Voegelin Wolfgang
KEK-PF
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VOEGELI Wolfgang
高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所
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平野 馨一
高エ研
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豊川 秀訓
Japan Synchrotron Radiation Research Institute(JASRI)
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豊川 秀訓
高輝度光科学研究センター
著作論文
- 31p-N-15 表面X線回折法による層状物質ヘテロエピタキシャル超薄膜の構造決定
- 24pWG-3 鏡面X線反射強度曲線の時分割測定の開発(X線・粒子線(X線回折・核共鳴分光),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 23pWK-5 多波長同時分散光学系を用いたトランケーションロッドの測定III(23pWK X線・粒子線(X線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 28aYK-9 多波長同時分散光学系を用いたトランケーションロッドの測定II(X線・粒子線(X線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 28pRE-9 多波長同時分散X線光学系を用いた結晶トランケーションロッドの測定(28pRE 領域10,領域5合同 X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 23aJA-8 多波長同時分散型CTR散乱法の時分割測定への応用(23aJA X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 23aJA-7 ラウエケースのX線CTR散乱(23aJA X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 多波長同時分散型光学系を用いた結晶トランケーションロッド散乱プロファイルの迅速測定法の開発