石井 真史 | 物材機構

スポンサーリンク

概要

• 石井 真史の詳細を見る
• 同名の論文著者
• 物材機構の論文著者

関連著者

• 石井 真史

  物材機構

• 石井 真史

  物質・材料研究機構

• 石井 真史

  独立行政法人 物質・材料研究機構

• 石井 真史

  Spring-8高輝度光科学研究センター

• 石井 真史

  Spring-8 Jasri

• 石井 真史

  高輝度光科学研究センター:理化学研究所播磨研究所

• 石井 真史

  (財)高輝度光化学研究センター放射光研究所

• 石井 真史

  (独)物質・材料研究機構

• 桜井 健次

  独立行政法人物質・材料研究機構

• 桜井 健次

  物質・材料研究機構

• 桜井 健次

  独立行政法人 物質・材料研究機構

• 桜井 健次

  物質・材料研究機構 材料研

• 桜井 健次

  (独)物質・材料研究機構材料研究所

• 桜井 健次

  (独)物質・材料研究機構 放射光解析グループ

• 桜井 健次

  (独)物質・材料研究機構 量子ビームセンター

• 小室 修二

  東洋大

• はみるとん ぶるーす

  Univ. Manchester

• 松下 正

  高エ研放射光

• 野村 昌治

  高エ研放射光

• 岩澤 康裕

  電気通信大学電気通信学部

• 稲田 康宏

  高エネルギー加速器研究機構 放射光科学研究施設

• 桜井 健次

  物材機構

• 野村 昌治

  高エネルギー加速器研究機構 放射光科学研究施設

• Inada Yasuhiro

  Laboratory Of Analytical Chemistry Faculty Of Science Nagoya University

• 稲田 康宏

  名古屋大学大学院理学研究科・物質科学国際研究センター

• 趙 新為

  東京理科大学

• 栗崎 敏

  福岡大学理学部化学科

• 岩澤 康裕

  社団法人日本化学会

• 原子 進

  東京理科大

• 原子 進

  東理大

• 趙 新為

  東理大

• 荒川 悦雄

  東京学芸大学教育学部自然科学系基礎自然科学講座物理科学分野

• 平野 馨一

  高エ研PF

• 松下 正

  高エ研

• 松下 正

  高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所

• 池田 直樹

  物材機構

• 池田 直樹

  独立行政法人 国立病院機構 近畿中央胸部疾患センター 外科

• 荒川 悦雄

  東京学芸大

• 青柳 克信

  理化学研究所

• 津谷 大樹

  物材機構

• 中尾 愛子

  理化学研究所ビームアプリケーションチーム

• 中尾 愛子

  理化学研究所

• 池田 直樹

  物質・材料研究機構

• 津谷 大樹

  (独)物質・材料研究機構

• 津谷 大樹

  独立行政法人 物質・材料研究機構

• 平野 馨一

  高エ研 PF

• 丹羽 尉博

  高エ研

• 稲田 康宏

  高エ研

• 丹羽 尉博

  高エ研放射光

• 稲田 康宏

  高エ研放射光

• 野村 昌治

  高エ研

• 石井 真史

  高輝度光科学研究センター

• 尾笹 一成

  理化学研究所

• 池田 直樹

  独立行政法人 物質・材料研究機構

• ハミルトン ブルース

  Manchester 大

• 趙 新為

  東京理科大

• くろー いあん

  Univ. Manchester

• ほーるずる まっしゅー

  Univ. Manchester

• ないつ あんどりゅー

  McMaster Univ.

• ないつ ういりあむ

  Univ. Surry

• とうるそん ぶらいあん

  Univ. Manchester

• 荒川 悦雄

  東京学芸大学

• 平野 馨一

  高エ研

• SHAM Tsun-Kong

  Canadian Light Source

• HAMILTON Bruce

  Univ. Manchester

• HU Yongfen

  Canadian Light Source

もっと見る 閉じる

著作論文

• 固体最表面の誘電特性の測定
• Au/Y_2O_3界面の低温化学反応の誘電緩和による解析
• 二段階プロセスで成膜したイットリア薄膜の結晶性とフッ素系ハロゲンプラズマ耐性
• 24pWG-3 鏡面X線反射強度曲線の時分割測定の開発(X線・粒子線(X線回折・核共鳴分光),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 22aTC-5 X線鏡面反射強度曲線の時分割測定を目指した新しい測定法の開発(X線・粒子線(X線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 2008年X線分析関連文献総合報告
• 2007年X線分析関連文献総合報告
• 埋め込み量子ドット界面のサイト選択的 X 線吸収測定(半導体・エレクトロニクス)
• パルスレ-ザ-堆積法による軟X線多層膜ミラ-の作製
• 日本原子力研究所関西研究所光量子科学研究センター
• 静電容量・静電気力による局在電子サイトの選択X線分析
• SCM-XAFS法による半導体表面顕微分光
• 走査型静電容量顕微鏡の原理と応用
• MIS構造
• 空乏層
• DXセンター
• キャパシタンスXAFS法 -結晶欠陥・表面・界面の選択的構造解析-
• 有機金属分解法によって作製したY_2O_3薄膜のX線反射率測定
• 誘電緩和を用いた高分子表面の動力学分析
• 希土類添加半導体の電荷伝搬・発光過程の光励起誘電緩和法による分析
• 希土類添加半導体の発光における電子と正孔の役割 (特集 光・量子ビームによるナノダイナミクス)
• nc-Si:Erの電荷伝搬解析によるエネルギー伝達過程の検討
• TiO_2:Smの温度消光過程の電荷伝搬解析による検討
• サイト選択X線吸収分光を使った光るSm添加物の局所歪の特定

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク