角田 潤一 | 東大物性研
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概要
関連著者
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白澤 徹郎
東大物性研
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高橋 敏男
東大物性研
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角田 潤一
東大物性研
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大山 真実
東大物性研
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杉木 祐人
東大物性研
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田中 悟
九大院工
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平原 徹
東大理
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萩原 好人
九大院工
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Srey Chenda
九大院工
著作論文
- 24aCC-5 表面X線回折法によるBi/Bi_2Te_3トポロジカル絶縁体界面の構造研究(24aCC 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 26pPSB-34 表面X線回折法によるSiC(000-1)上のエピタキシャルグラフェンの界面構造の研究(26pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 26pPSA-38 X線CTR散乱法によるトポロジカル絶縁体Bi_2Se_3超薄膜の構造解析(26pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 26aXZA-2 CuドープBi_2Se_3薄膜のX線CTR散乱法による構造解析(26aXZA 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))