26pPSA-38 X線CTR散乱法によるトポロジカル絶縁体Bi_2Se_3超薄膜の構造解析(26pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))

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概要

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• 2013-03-26

著者

• 白澤 徹郎

  東大物性研

• 高橋 敏男

  東大物性研

• 角田 潤一

  東大物性研

• 杉木 祐人

  東大物性研

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