GaN系ヘテロ構造の電気伝導特性およびFET静特性
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概要
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AlGaN/GaNシングル・ヘテロ構造およびAlGaN/(In)GaN/AlGaNダブル・ヘテロ構造の電気伝導特性およびFET静特性について報告する。AlGaN/GaNシングル・ヘテロ構造FETにおいては、高い2次元電子濃度を得るためのこの材料系特有の設計指針、および、ピンチオフ特性の良好な高温トランジスタ特性について報告する。AlGaN/(In)GaN/AlGaNダブル・ヘテロ構造においては、この材料系に特有の2次元電子移動度の劇的な促進現象について報告する。試作したGaNダブル・ヘテロ構造FETからは、相互コンダクタンス180mS/mmの電流飽和およびピンチオフ特性の良好な静特性が得られた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-10-22
著者
-
小林 直樹
日本電信電話株式会社ntt物性科学基礎研究所
-
西田 敏夫
Ntt物性基礎研究所
-
小林 直樹
Ntt 物性科学基礎研
-
小林 直樹
日本電信電話(株)ntt物性科学基礎研究所
-
小林 直樹
NTT物性科学基礎研究所
-
前田 就彦
NTT物性科学基礎研究所
-
斉藤 正
NTT物性科学基礎研究所
-
椿 光太郎
NTT物性科学基礎研究所
-
前田 就彦
NTTフォトニクス研究所
-
椿 光太郎
東洋大学工学部
-
齋藤 正
NTT物性科学基礎研究所
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