816 電子部品の破壊における落下衝撃信頼性評価
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概要
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- 2003-09-23
著者
-
于 強
横浜国立大学大学院工学研究院システムの創生部門システムのデザイン分野
-
于 強
横浜国立大学
-
渡邊 啓治
横国大院
-
白鳥 正樹
横浜国立大学 安心・安全の科学研究教育センター
-
垣野 学
松下電器産業株式会社生産革新本部生産プロセス革新センター
-
鶴澤 俊浩
横国大院
-
白鳥 正樹
横浜国立大学
-
垣野 学
松下電器産業
-
藤原 憲之
松下電器産業
-
渡邊 啓治
横浜国立大学
-
鶴澤 俊浩
横浜国立大学
-
藤原 憲之
松下電器産業株式会社
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