落合 幸徳 | Nec基礎・環境研究所
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概要
関連著者
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落合 幸徳
Nec基礎・環境研究所
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落合 幸徳
JST
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落合 幸徳
Nec基礎・環境研
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石田 真彦
NEC基礎・環境研究所
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二瓶 史行
NEC基礎研
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二瓶 史行
Nec基礎・環境研究所
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Nihey F
Nec Fundamental And Environmental Res. Lab. Tsukuba Jpn
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Nihey Fumiyuki
Nec Fundamental Research Laboratories
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二瓶 史行
大阪大学大学院理学研究科物理学専攻
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Nihey Fumiyuki
Fundamental Research Laboratories Nec Corporation
著作論文
- 14nmゲートEJ-MOSFETの作製と電気的特性の評価
- 14 nmゲート EJ-MOSFETの作製と電気的特性の評価
- ナノ構造技術
- 30nmゲート長EJ-MOSFETの作製
- 27p-ZF-8 可視発光Siの作製と物性 : イオン照射フッ酸処理法と陽極化成法
- トップダウン微細加工によるカーボンナノチューブの位置制御技術
- 鉄触媒を用いた固相反応による非晶質カーボンピラーのチューブ化その場観察
- 鉄触媒を用いた固相反応による非晶質カーボンのチューブ化その場観察
- 12pWF-10 固相反応による鉄触媒からのカーボンナノチューブ形成過程その場観察(ナノチューブ物性, 領域 7)
- 選択成長層からの固相拡散による浅接合トランジスタ