谷垣 勝巳 | NEC基礎研
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概要
関連著者
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谷垣 勝巳
NEC基礎研
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谷垣 勝巳
東北大理
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廣沢 一郎
Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI)
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広沢 一郎
NEC
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広沢 一郎
Nec分析評価センター
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広沢 一郎
Jasri
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廣沢 一郎
高輝度光科学研究センター(spring-8)
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廣沢 一郎
(財)高輝度光科学研究センター利用研究促進部門i
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広沢 一郎
Necデバイス評価技術研究所
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廣沢 一郎
財団法人高輝度光科学研究センター
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小坂 真由美
Nec基礎研
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水木 純一郎
Nec基礎研
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広沢 一郎
NEC基礎研
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廣沢 一郎
NEC基礎研究所
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坂本 浩一
都立大
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笹野 朗弘
都立大理
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笹野 朗弘
都立大
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溝口 憲治
都立大 (理)
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溝口 憲治
都立大理
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Prassides K
Sussex大
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黒島 貞則
NEC基礎研
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黒島 貞則
Fundamental Research Laboratories, NEC Corporation
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黒島 貞則
Fundamental Research Laboratories Nec Corporation
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久保 佳実
NEC基礎研
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島川 祐一
NEC基礎研
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大友 季哉
高エネ機構
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真庭 豊
都立大理
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新井 正敏
神戸大理
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藤田 淳一
NEC基礎研
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久保 佳実
日本電気(株)基礎研
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Gevaert M
Sussex大
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Lappas A
Sussex大
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Cockroft J.K.
Birkbeck大
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大友 季哉
東北大金研
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Christides C
Sussex Univ.
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エプソン トーマス
NEC基礎研究所
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木村 英和
NEC基礎研
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久米 潔
都立大理
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Ebbesen T.M
NEC基礎研
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木村 英和
Nec基礎研究所
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島川 祐一
日本電気(株)基礎研究所
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落合 幸徳
NEC基礎研究所
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落合 幸徳
Nec基礎・環境研究所
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藤田 淳一
筑波大学大学院数理物質科学研究科
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藤田 淳一
Nec基礎研究所
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廣沢 一郎
Nec分析評価センター
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廣沢 一郎
NEC材料部品分析評価センター
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篠谷 桂三
都立大
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久保 佳実
日本電気(株)基礎研究所
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久保 佳実
Necトーキン株式会社研究開発本部
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久保 佳実
NEC中央研究所
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久保 佳実
日本電気(株)システムデバイス・基礎研究本部 基礎研究所
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ゾー オット
NEC基礎研
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真庭 豊
都立大・理
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久米 潔
都立大 理
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高井 大祐
NEC基礎研究所
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落合 幸徳
Nec基礎・環境研
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内田 研四郎
Bruker Japan
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エブソン トーマス
Nec基礎研究所
著作論文
- 2a-S-3 Li_2C_sC_60の構造
- 28a-YK-4 Rb_3C_超伝導体の分子内振動の温度依存性
- 28a-YK-3 Na2AC60(A=Cs, Rb, K)超伝導体における相転移
- 28a-YK-2 A_2RbC_のEXAFS
- 27a-J-9 A_B_xC_(A, B=Li, Na, K, Rb, Cs)の構造と超伝導転移温度の関係
- 29a-J-7 A_1C_60(A=Rb, Cs)のNMR
- 30a-YX-11 Rb_1C_ポリマー相の相転移
- 6p-D-4 Rb_1C_ポリマー相のESR3
- 29a-J-8 アルカリドープC_602価化合物:NaCsC_60
- 2a-S-5 K3C60およびRb3C60の電子状態
- 6a-PS-124 ナノスケール磁気ドット格子の磁気特性
- 31a-C-9 シリコンおよびゲルマニウムクラスレート物質の形成
- Rb_1C_ポリマー相のESR周波数依存性
- 29a-D-9 Rb_1C_ポリマー相のESR II