木村 英和 | Nec基礎研究所

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概要

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関連著者

• 木村 英和

  Nec基礎研究所

• 木村 英和

  NEC基礎研

• 水木 純一郎

  Nec基礎研

• 水木 純一郎

  日本原子力研究所 関西研究所放射光利用研究部

• 山口 博隆

  電総研

• 大柳 宏之

  電総研

• 寺島 孝仁

  京大・化研

• 寺嶋 孝仁

  Kyoto Univ.

• 坂東 直周

  Kyoto Univ.

• 山口 博隆

  産総研

• 水木 純一郎

  日本原子力研究所放射光科学研究センター

• 廣沢 一郎

  Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI)

• 谷垣 勝巳

  東北大理

• 河村 直巳

  JASRI

• 圓山 裕

  岡山大理

• 水木 純一郎

  日本原子力研究所

• 広沢 一郎

  NEC

• 広沢 一郎

  NEC基礎研

• 谷垣 勝巳

  NEC基礎研

• 木村 英知

  NEC

• 寺島 孝仁

  京大化研

• 坂東 直周

  京大化研

• 森 一男

  Nec光エレクトロニクス研究所

• 広沢 一郎

  Nec分析評価センター

• 広沢 一郎

  Jasri

• 廣沢 一郎

  高輝度光科学研究センター(spring-8)

• 廣沢 一郎

  (財)高輝度光科学研究センター利用研究促進部門i

• 廣沢 一郎

  財団法人高輝度光科学研究センター

• 小林 憲司

  NECシステムデバイス・基礎研究本部

• 廣沢 一郎

  NEC基礎研究所

• 広沢 一郎

  Necデバイス評価技術研究所

• 豊島 秀雄

  NECマイクロエレクトロニクス研究所

• 丹羽 隆樹

  Necマイクロエレクトロニクス研究所

• 小林 憲司

  岡山大理

• 河村 直巳

  岡山大理

• 水木 純一郎

  原子力機構量子ビーム

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著作論文

• 28a-YK-2 A_2RbC_のEXAFS
• 15p-T-10 YBa_2Cu_3O_yの面内構造異常
• 28p-PS-77 YBa_2Cu_3O_薄膜の偏光EXAFSの温度変化
• 放射光X線異常分散を利用した薄膜構造研究
• 14a-DL-11 超格子のDAFS
• 13p-E-4 「回折XAFS」とその有効性
• 3p-F-11 DAFSによるYIGの吸収端近傍の構造

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