木村 滋 | (財)高輝度光科学研究センター ナノテクノロジー総合支援プロジェクト推進室
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概要
関連著者
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木村 滋
JASRI
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木村 滋
マイクロエレ研
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木村 滋
(財)高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門
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木村 滋
財団法人高輝度光科学研究センター
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木村 滋
高輝度光科学研究セ
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田中 義人
理化学研究所X線自由電子レーザー計画推進本部
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田中 義人
(独)理化学研究所播磨研究所 放射光科学総合研究センター
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Takata Masaki
Jasri Spring-8
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田中 義人
理化学研究所・播磨研究所 放射光科学総合研究センター
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福山 祥光
高輝度光科学研究セ
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福山 祥光
(財)高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門
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安田 伸広
(財)高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門
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金 廷恩
Jasri
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高田 昌樹
理研
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田中 義人
理研播磨
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高田 昌樹
理研播磨
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守友 浩
筑波大数理
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田中 均
独立行政法人理化学研究所x線自由電子レーザー計画推進本部
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加藤 建一
高輝度光科学研究セ
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上岡 隼人
筑波大数理
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山田 昇
独立行政法人科学技術振興機構crest
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村山 美乃
中央大学理工学部応用化学科
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鴻池 光一郎
阪大基礎工
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山田 昇
松下電器産業(株)メディア制御システム開発センター
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山田 昇
松下電器産業
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Takata Masaki
Japan Synchrotron Radiation Research Institute/spring-8
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加藤 健一
理研播磨
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児島 理恵
パナソニック株式会社
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熊代 良太郎
東北大院理
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熊代 良太郎
CREST
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小原 真
Jasri Spring-8
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小原 真司
高輝度光科学研
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村山 美乃
中央大理工
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松永 利之
パナソニック(株)
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鳥海 幸四郎
兵庫県大院物質
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田中 均
理研播磨
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鳥海 幸四郎
兵庫県立大院物質
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松永 利之
松下テクノリサーチ
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金 廷恩
JASRI, SPring-8
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中川 剛志
JASRI SPring-8
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福山 祥光
JASRI SPring-8
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安田 伸広
JASRI SPring-8
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大澤 仁志
JASRI SPring-8
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赤坂 健
筑波大
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廣芝 伸哉
東北大院理
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廣芝 伸哉
(独)物質・材料研究機構
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高田 昌樹
JASRI
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大島 隆
理研播磨
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小林 啓介
NIMS
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安田 伸広
高輝度光科学研究セ
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金 廷恩
高輝度光科学研究セ
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赤阪 健
筑波大数物
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石川 哲也
東大工
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高田 昌樹
理研放射光
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大沢 仁志
高輝度光科学研究センター
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Moyoshi Taketo
Nagoya Univ. Nagoya
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中川 剛恵
名大院工
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TAKATA Masaki
SPring-8/RIKEN
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大島 隆
高輝度光科学研究センター
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大越 慎一
東大院理(化学)
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谷垣 勝己
東北大院理
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加藤 健一
理研
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大越 慎一
東大理
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中田 文也
筑波大
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田中 均
JASRI SPring-8
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中田 文也
筑波大数理
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青柳 忍
名大工
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大橋 弘孝
東北大院理
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赤阪 健
筑波大
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木村 滋
CREST
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加藤 健一
Tsukuba Univ
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大橋 弘孝
大阪市立大
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谷垣 勝己
大阪市立大
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加藤 健一
JASRI
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小原 真司
Jasri
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小原 真司
高輝度光科学研究センター
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山田 昇
パナソニック(株)
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松永 利之
(株)松下テクノリサーチ
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児島 理恵
松下電器産業(株)
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山田 昇
松下電器産業(株)
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大越 慎一
東大先端研
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田中 義人
理研
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小林 啓介
(財)高輝度光科学研究センター ナノテクノロジー総合支援プロジェクト推進室
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石川 哲也
東京大学工学部
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松井 純爾
NEC 研究開発グループ
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田中 均
理研XFEL計画推進本部
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大島 隆
理研
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水牧 仁一朗
JASRI, SPring-8
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日比谷 孟俊
ウィーン工科大学熱流体力学研究所
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篠原 久典
名大院理
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大沢 仁志
JASRI
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渡辺 匡人
NEC
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市橋 鋭也
NEC基礎研究所
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上岡 隼人
筑波大
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守友 浩
筑波大
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上岡 隼人
JASRI SPring 8
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守友 浩
JASRI SPring 8
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篠原 久典
名古屋大学大学院理学研究科物質理学専攻
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水牧 仁一朗
Jasri Spring-8
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水牧 仁一郎
Jasri
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杉原 周二
大阪市立大
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廣芝 伸哉
大阪市立大
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Nikos Tagmatarchis
University of Trieste
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加藤 治人
名古屋大
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青柳 忍
SPring-8
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高田 昌樹
名古屋大
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黒岩 芳弘
広大院理
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平野 馨一
KEK
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大隅 寛幸
SPring-8 JASRI
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高田 昌樹
高輝度光科学研究センター
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Akola Jaakko
Jyvaskyla大物理
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Jones Robert
IFF
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久保 衆伍
島根大総理工
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篠原 久典
名大理
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松井 純爾
姫路工業大学
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篭島 靖
姫路工業大学
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津坂 佳幸
姫路工業大学
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大隅 寛幸
理研放射光
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松下 明行
物材機構
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水牧 仁一朗
SPring-8
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田中 義人
(独)理化学研究所 播磨研究所 放射光科学総合研究センター
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山田 裕
新潟大理
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青柳 忍
JASRI
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高田 昌樹
SPring-8
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日比谷 孟俊
日本電気(株)基礎研究所
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山田 容士
超電導工研
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木村 英和
Necシステムデバイス・基礎研究本部
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渡辺 匡人
日本電気(株)基礎研究所
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矢田 真治
島根大学総合理工
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加藤 孝弘
島根大学総合理工
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山中 一輝
島根大学総合理工
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山田 容士
島根大学
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山田 容士
超電導工学研究所
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坂田 修身
JASRI
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久保 衆伍
島根大総合理工
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大島 行雄
高輝度光科学研究センター 企画室
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守友 浩
筑波大院数理
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馬場 雅和
NEC基礎研究所
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高田 昌樹
財団法人高輝度光科学研究センター
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壽榮松 宏仁
Spring-8
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日比谷 孟俊
首都大学東京
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田中 義人
独立行政法人理化学研究所・播磨研究所・放射光科学総合研究センター
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柿本 浩一
九州大学応用力学研究所
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江口 実
Nec
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柿本 浩一
日本電気(株)基礎研究所
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金 廷恩
(財)高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門
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小林 憲司
NECシステムデバイス・基礎研究本部
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泉 弘一
NECシステムデバイス・基礎研究本部
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木村 滋
NECシステムデバイス・基礎研究本部
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伊吹 高志
姫工大理学部
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横山 佳幸
姫工大理学部
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篭島 靖
姫工大理学部
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津坂 佳幸
姫工大理学部
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松井 純爾
姫工大理学部
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木村 滋
NEC マイクロエレクロニクス研究所
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落合 幸徳
JST
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落合 幸徳
NEC基礎研究所
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松井 真二
NEC基礎研究所
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山中 一輝
島根大学総合理工学部
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落合 幸徳
Nec基礎・環境研究所
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坂田 修身
Jst-crest:高輝度光科学研
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坂田 修身
高輝度光科学研究センター
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坂田 修身
Spring-8 Jasri
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坂田 修身
財団法人 高輝度光科学研究センター
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広瀬 和之
宇宙科学研究所
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秋本 晃一
Nec筑波
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小野 晴彦
マイクロエレ研
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篠原 久典
名古屋大
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伊吹 高志
姫路工業大学大学院理学研究科
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望月 康則
NEC基礎研
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渡部 平司
NEC基礎研
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大久保 紀雄
NEC基礎研
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山田 容士
島根大総合理工
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木村 滋
SPring-8
-
水牧 仁一郎
Jasri Spring-8
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相沢 一雄
Nec筑波
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壽榮 松宏仁
東大理
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高田 昌樹
名古屋大学
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三浦 喜直
NECシリコンシステム研究所
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加藤 孝弘
長岡技術科学大学
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田中 義人
独立行政法人国立病院機構京都医療センター消化器科
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松井 真二
兵庫県立大
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松井 真二
日本電気(株)基礎研究所
-
望月 康則
Necシステムデバイス研究所
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加藤 健一
高輝度光科学研究センター
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青柳 忍
高輝度光科学研究センター
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柏原 泰治
Jasri
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渡部 平司
NECシステムデバイス研究所
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馬場 雅和
Nec 基礎・環境研
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馬場 雅和
Nec基礎研:crest-jst
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市橋 鋭也
Nec基礎・環境研究所
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坂田 修身
財団法人 高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門
-
坂田 修身
高輝度光科学研究センター放射光研究所利用促進部門
-
神崎 清志
東大工
-
平野 馨一
東大工
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淵上 勝弘
東大工
-
三浦 喜直
NEC筑波
-
木村 滋
NEC筑波
-
広瀬 和之
NEC筑波
-
日比谷 孟俊
日本電気(株)
著作論文
- 28pPSA-40 Co-Feシアノ架橋金属錯体の構造ダイナミクス(28pPSA 領域5ポスターセッション,領域5(光物性))
- 22aPS-71 Co-Feシアノ架橋金属錯体の構造ダイナミクス(22aPS 領域5ポスターセッション,領域5(光物性))
- 13pWH-7 C_FET に於ける界面修飾の及ぼす影響とその評価(FET, 領域 8)
- 13pWH-7 C_FET に於ける界面修飾の及ぼす影響とその評価(FET, 領域 7)
- 22pXG-5 フラーレン薄膜 FET における薄膜構造と物性
- 28pRE-3 反応現象のX線ピンポイント構造計測II : DVD材料の高速相変化の観測(28pRE 領域10,領域5合同 X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 30pYK-2 アモルファスGe_2Sb_2Te_5の構造(30pYK 液体金属,領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
- 23pPSB-60 時間分解X線回折装置を用いたピンポイント構造計測(領域5ポスターセッション,領域5,光物性)
- 21aXK-2 ピンポイント構造計測によるDVD記録材料の時分割構造評価(結晶成長,領域9,表面・界面,結晶成長)
- X線ピンポイント構造計測による粉末試料1粒からの単結晶構造解析
- 28pRE-2 反応現象のX線ピンポイント構造計測I : 粉末1粒からの結晶構造解析(28pRE 領域10,領域5合同 X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- SPring-8の産業利用(9)放射光マイクロX線回折法によるひずみ緩和SiGeバッファー層の評価
- 放射光によるナノ材料表面界面・薄膜の評価
- X線マイクロビームを用いた局所領域微量ひずみの検出
- 新しい実験手法が拓く構造物性 高分解能マイクロビームX線回折法による半導体レーザー素子の評価 (放射光X線による構造物性研究の最前線 特集号) -- (放射光構造物性研究の最前線)
- 23aYH-9 サブミクロンの空間分解能をもつX線位相顕微鏡の開発
- シリコン結晶中の微小欠陥が形成する格子歪の研究
- X線・放射光反射および回折による薄膜材料評価技術
- 反応現象のX線ピンポイント構造計測 : DVD材料の光記録現象をSPring-8で見る
- 27p-ZF-8 可視発光Siの作製と物性 : イオン照射フッ酸処理法と陽極化成法
- 21aXB-3 非共鳴 X 線磁気散乱における偏光解析の新手法
- DVD相変化材料の時分割構造解析
- 28pYD-9 種々の FET 基板上におけるフラーレンおよび関連物質の構造
- 2nd US-Japan Workshop on Synchrotron Radiation and Nanoscience 報告
- SPring-8のナノテクノロジー材料研究
- 26a-S-4 界面選択性X線トポグラフィ
- MgB_2薄膜の成長と超伝導特性に対するバッファー層効果
- Si融液対流と育成結晶中のストリエーションとの相関 : 融液成長VI
- 高分解能マイクロビームX線回折法によるInGaAsP選択成長層の評価 : 第3世代放射光の産業利用の例として
- 29a-XJ-1 動力学理論によるCTR散乱
- 表面選択性X線トポグラフィによる鏡面研磨シリコン表面の観察
- 4. X線-CTR測定によるイオン結晶へき開表面の評価(名古屋大学応用物理学教室,修士論文題目・アブストラクト(1987年度)その2)
- 26pXS-3 放射光で見るMg基LPSO構造(26pXS 領域10シンポジウム:Mg基長周期積層構造(LPSO)における面欠陥と溶質原子の相互作用,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))