13pWH-7 C_<60>FET に於ける界面修飾の及ぼす影響とその評価(FET, 領域 8)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2004-08-25

著者

• 谷垣 勝己

  東北大院理

• 木村 滋

  JASRI

• 熊代 良太郎

  東北大院理

• 赤坂 健

  筑波大

• 廣芝 伸哉

  東北大院理

• 廣芝 伸哉

  (独)物質・材料研究機構

• 熊代 良太郎

  CREST

• 赤阪 健

  筑波大

• 木村 滋

  CREST

• 加藤 健一

  Tsukuba Univ

• 高田 昌樹

  JASRI

• 赤阪 健

  筑波大数物

• 木村 滋

  (財)高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門

• 木村 滋

  マイクロエレ研

• 木村 滋

  Nec基礎研究所

• 木村 滋

  (財)高輝度光科学研究センター ナノテクノロジー総合支援プロジェクト推進室

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