X線マイクロビームを用いた局所領域微量ひずみの検出
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概要
著者
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木村 滋
JASRI
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松井 純爾
姫路工業大学
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篭島 靖
姫路工業大学
-
津坂 佳幸
姫路工業大学
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木村 滋
(財)高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門
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木村 滋
財団法人高輝度光科学研究センター
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木村 滋
マイクロエレ研
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篭島 靖
兵庫県立大学大学院物質理学研究科
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木村 滋
Nec基礎研究所
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木村 滋
(財)高輝度光科学研究センター ナノテクノロジー総合支援プロジェクト推進室
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松井 純爾
(財)ひょうご科学技術協会兵庫県放射光ナノテク研究所
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篭島 靖
兵庫県大 大学院物質理学研究科
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