高輝度放射光を用いた気相中結晶成長プロセス中の表面構造解析
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2000-09-29
著者
-
内海 裕一
Ntt物性科学基礎研究所
-
松井 純爾
姫路工業大学
-
篭島 靖
姫路工業大学
-
津坂 佳幸
姫路工業大学
-
渡辺 義夫
Ntt物性科学基礎研究所
-
渡辺 義夫
Ntt物性研
-
川村 朋晃
NTT物性科学基礎研究所
-
藤川 誠司
姫路工業大学大学院
-
篭島 靖
兵庫県立大学大学院物質理学研究科
-
藤川 誠司
兵庫県立大学
-
松井 純爾
(財)ひょうご科学技術協会兵庫県放射光ナノテク研究所
-
渡辺 義夫
NTT物性基礎研
関連論文
- 屈折コントラストイメージング
- 放射光を用いた屈折コントラストイメージング
- X線屈折コントラストイメージング
- 屈折イメージング
- 第2回ナノスケール分光法とナノテクノロジーへの応用 : 国際ワークショップ報告
- X線マイクロビームを用いた局所領域微量ひずみの検出
- 新しい実験手法が拓く構造物性 高分解能マイクロビームX線回折法による半導体レーザー素子の評価 (放射光X線による構造物性研究の最前線 特集号) -- (放射光構造物性研究の最前線)
- 23aYH-9 サブミクロンの空間分解能をもつX線位相顕微鏡の開発
- 29aZB-4 カリウム内包単層ナノチューブの光電子分光
- 25pT-8 GaAs(001)表面におけるダイナミクス : 4×2表面超構造の消滅過程の観察
- 24aPS-16 GaAsのGa3d二正孔状態の共鳴光電子分光 : 表面成分の観測
- 23aM-12 Photoemission experiment for Co film on Se/GaAs(001) : Study of satellite structures in Co- and Ga-3d spectra
- 24pW-1 GaAs(001)におけるGa成長過程の時間分解内殻光電子分光による解析
- 22aXF-3 光電子顕微鏡による単層ナノチューブの観察
- 12pWF-4 個々のナノチューブの仕事関数測定(ナノチューブ物性, 領域 7)
- 30aZP-11 光電子顕微鏡による単層ナノチューブの観察(2)(ナノチューブ(電子構造・光物性))(領域7)
- 27aWB-8 配向したナノチューブの光電子分光
- ナノシリコン層の歪み解析
- 23aYF-7 単層カーボンナノチューブ束の光電子分光
- 高輝度放射光を用いた気相中結晶成長過程のリアルタイム観察
- X線回折法による半導体ナノワイヤーの評価
- 高輝度放射光を用いた気相成長表面の実時間X線回折
- 半導体ナノワイヤ結晶
- 放射光光電子分光顕微鏡を用いた半導体ナノ結晶の評価
- 斜入射X線回折法による気相中半導体表面の解析=水素中InP表面超構造の解明=
- 高輝度放射光を用いた気相中結晶成長プロセス中の表面構造解析
- 高輝度放射光を用いた気相中結晶成長プロセス中の表面構造解析
- 放射光軟X線光電子顕微鏡による自己組織化InAsナノ結晶の分光型光電子顕微鏡観察
- 脱溶存酸素・超純水によるGaAs(001)表面の洗浄および洗浄表面に対する熱処理の効果
- 硬X線顕微干渉計の構築と顕微位相トモグラフィへの応用
- 放射光X線顕微鏡の現状と今後の展望
- 放射光X線顕微鏡の現状と今後の展望
- 半導体ナノ構造・量子デバイス
- 硬X線位相差顕微鏡による植物生体試料の観察
- 放射光を用いた非破壊元素マッピングによる感染葉の観察(平成12年度 日本植物病理学会大会 講演要旨)
- 斜入射X線回折によるシリコンナノ薄膜の歪解析
- IV 兵庫県放射光研究施設の管理・運営(X線光学)
- III MOCVDを用いた半導体低次元構造の成長機構に関する研究(X線光学)
- II 電子材料等の局所構造に関する研究(X線光学)
- I X線顕微鏡の開発と物質・生命科学への応用研究(X線光学)
- IV 兵庫県放射光研究施設の管理・運営(X線光学,物質理学研究科)
- III MOCVDを用いた半導体低次元構造の成長機構に関する研究(X線光学,物質理学研究科)
- II 電子材料等の局所構造に関する研究(X線光学,物質理学研究科)
- I X線顕微鏡の開発と物質・生命科学への応用研究(X線光学,物質理学研究科)
- IV 兵庫県放射光研究施設の管理・運営(X線光学)
- III MOCVDを用いた半導体低次元構造の成長機構に関する研究(X線光学)
- II 電子材料等の局所構造に関する研究(X線光学)
- I X線顕微鏡の開発と物質・生命科学への応用研究(X線光学)
- X線顕微鏡
- フレネルゾーンプレートとその応用の最前線
- 第8回X線顕微鏡国際会議報告
- 放射光利用X線マイクロビームによる半導体結晶中の高精度歪み評価 : 招待講演
- SPring-8を利用した毛髪内部の構造変化測定
- SPring-8シンクロトロンX線源
- 解説 SPring-8シンクロトロンX線源 (特集 X線源の新潮流とX線画像技術)
- 半導体ナノスケール薄膜の歪解析 (特集 新しい機能性ナノ構造にかかわる基礎研究)
- 高性能X線マイクロビーム形成技術の開発とX線顕微鏡への応用研究
- 第7回X線顕微鏡国際会議XRM2002に参加して
- 7pPSA-4 低温測定用角度分解光電子分光ビームラインの製作(領域5)
- 7pSP-5 分光型光電子顕微鏡による局所電子状態の研究(主題:表面光電子分光法の技術改革:表面量子準位からナノ構造まで,領域9シンポジウム,領域9)
- 9aSN-4 GaAs(001)の時間分解内殻準位光電子分光 : 2×4←→4×2超構造相転移過程(表面・界面ダイナミクス,領域9)