川村 朋晃 | NTT物性科学基礎研究所

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概要

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• 同名の論文著者
• NTT物性科学基礎研究所の論文著者

関連著者

• 川村 朋晃

  NTT物性科学基礎研究所

• 藤川 誠司

  兵庫県立大学

• 渡辺 義夫

  Ntt物性科学基礎研究所

• 渡辺 義夫

  Ntt物性研

• 渡辺 義夫

  NTT物性基礎研

• 篭島 靖

  兵庫県立大学大学院物質理学研究科

• 藤川 誠司

  兵庫県立大学理学部

• 藤川 誠司

  姫路工業大学大学院

• 松井 純爾

  (財)ひょうご科学技術協会兵庫県放射光ナノテク研究所

• 内海 裕一

  Ntt物性科学基礎研究所

• 渡辺 義夫

  SPring-8, JASRI

• 松井 純爾

  姫路工業大学

• 篭島 靖

  姫路工業大学

• 津坂 佳幸

  姫路工業大学

• Bhunia S.

  NTT物性科学基礎研究所

• 尾身 博雄

  NTT物性科学基礎研究所

• 小林 慶裕

  NTT物性基礎研

• BHUNIA Satyaban

  NTT物性科学基礎研究所

• 篭島 靖

  兵庫県立大学

• 津坂 佳幸

  兵庫県立大学

• 松井 純爾

  兵庫県先端科学技術支援センター

• 尾身 博雄

  Ntt物性基礎研

• 篭島 靖

  兵庫県大 大学院物質理学研究科

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著作論文

• ナノシリコン層の歪み解析
• 高輝度放射光を用いた気相中結晶成長過程のリアルタイム観察
• X線回折法による半導体ナノワイヤーの評価
• 高輝度放射光を用いた気相成長表面の実時間X線回折
• 斜入射X線回折法による気相中半導体表面の解析=水素中InP表面超構造の解明=
• 高輝度放射光を用いた気相中結晶成長プロセス中の表面構造解析
• 高輝度放射光を用いた気相中結晶成長プロセス中の表面構造解析
• 斜入射X線回折によるシリコンナノ薄膜の歪解析
• 半導体ナノスケール薄膜の歪解析 (特集 新しい機能性ナノ構造にかかわる基礎研究)

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