走査型プローブ顕微鏡を用いた有機超薄膜の局所物性評価
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概要
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走査型プローブ顕微鏡は、有機超薄膜の表面形状の観察のみでなく局所領域の電気的物性の測定が行える点からも注目されている。特に、走査型トンネル分光法(STS)は試料の局所状態密度が得られる測定法であり、通常探針として一様な電子状態を持つ金属が使用される。一方、半導体探針を使用した場合得られるトンネルスペクトルは探針の電子状態を反映すると考えられ、様々な応用が考えられる。さらに、走査型トンネル顕微鏡(STM)と併用した非弾性電子トンネルスペクトロスコピーは、局所領域での分子振動モードを検出できる。本報告では、これらの基礎特性と高密度記録媒体への応用について述べる。
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-07-25
著者
-
工藤 一浩
千葉大学 工学部 電子機械工学科
-
国吉 繁一
千葉大学大学院工学研究科
-
国吉 繁一
千葉大学 工学部 電子機械工学科
-
田中 國昭
千葉大学 工学部 電子機械工学科
-
小澤 勝己
千葉大学 工学部 電気電子工学科
-
小澤 勝己
千葉大学
-
工藤 一浩
千葉大学 大学院工学研究科
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